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塊電阻測試儀是種依照類似的家標(biāo)準(zhǔn)和美A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn),門測量半導(dǎo)體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器,可用于測量般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等物質(zhì)的薄層電阻。
該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心;用基準(zhǔn)電源和運算放大器組成度穩(wěn)源;帶回路有效正常示電路;并配以大型LCD顯示讀數(shù),使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、度的點。
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