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單晶少子壽命測試儀 少子壽命測試儀 型號:GZ-LT-2
GZ-LT-2型單晶少子壽命測試儀是參考美 A.S.T.M 標準而的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載子壽命。半導體材料的少數(shù)載子壽命測量,是半導體的常規(guī)測試項目之。本儀器靈敏度較,配備有紅外光源,可測量包括集成電路硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶,以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。 | ||||||||||||||||||||||||
本儀器根據(jù)際通用方法頻光電導衰退法的原理,由穩(wěn)壓電源、頻源、檢波放大器,制的InGaAsp/InP紅外光源及樣品臺共五份組成。采用印刷電路和頻接插連接。整機結(jié)構(gòu)緊湊、測量數(shù)據(jù)可靠。 | ||||||||||||||||||||||||
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