據(jù)物理學(xué)家組織網(wǎng)2013年6月中旬報道，一個由美國密歇根大學(xué)等單位研究人員組成的

小組開發(fā)出一種納米級的“溫度計”，能從原子尺度測量熱散逸，并建立了一種框架，來解

釋納米級系統(tǒng)的熱散逸現(xiàn)象。這一成果為開發(fā)體積更小、功能更強的電子設(shè)備掃除了一項重要技

術(shù)障礙。相關(guān)論文發(fā)表在《自然》雜志上。
       雷迪實驗室博士生李宇哲（音譯）等人開發(fā)出一種技術(shù)，特制了一個穩(wěn)定的原子設(shè)備和一種納

米大小的溫度計，將二者結(jié)合做成一種圓錐形工具。在分子樣本線路中，圓錐形工具和一片黃金

薄片之間能捕獲一個分子或原子，以研究其熱散逸。他們通過實驗顯示了一個原子級系統(tǒng)的變熱

過程，以及這一過程與宏觀尺度變熱過程的不同，并且設(shè)計了一個框架來解釋這一過程。

     雷迪解釋說，在可接觸的宏觀世界里，電子天平當(dāng)電流通過導(dǎo)線時，整個導(dǎo)線都會發(fā)熱，與其相連

的所有電極也是如此。相比之下，當(dāng)“導(dǎo)線”是納米大小的分子，而且只和兩個電極接合時，溫

度升高主要發(fā)生在二者之一中。“在原子級設(shè)備中，所有熱量集中在一個地方，很少會到其他地

方。”

　　雷迪說：“我們的研究還進一步證實了物理學(xué)家列夫·朗道提出的熱散逸理論的有效性，并

深入理解了熱散逸和原子尺度的熱電現(xiàn)象之間的關(guān)系，這是從熱到電之間的轉(zhuǎn)變。”