SIMI-2939半導體分立器件測試儀
產品特點
測試品種覆蓋面廣、測試精度高、電參數(shù)測試全、速度快、有良好的重復性和一致性、工作穩(wěn)定可靠，具有保護系統(tǒng)和被測器件的能力。被測器件可通過圖形顯示，系統(tǒng)軟件功能全、使用靈活方便、操作簡單。系統(tǒng)軟件穩(wěn)定可靠、硬件故障率低，在實際測試應用中各項技術指標均可達到器件手冊技術指標及國標要求。
測試參數(shù)
1． 二極管:VF、IR、BVR
2． 穩(wěn)壓（齊納）二極管 ：VF、IR、BV Z
3． 晶體管 Transistor（NPN型/PNP型）：VBE、ICBO、 LCEO、IEBO、BVCEO、BVCBO、BVEBO、hFE、VCESAT、VBESAT 、VBEON
4． 可控硅整流器（晶閘管） ：IGT、VGT、 IH、IL 、VTM
5． 場效應管 ：IGESF、IGSSF、 IGSSR、IGSS、VDSON、RDSON、VGSTH、IDSS、IDON 、gFS、 BVDGO、BVGSS
6． 光電耦合器 ：VF 、IR、CTR、ICEO、BVCEO、VCESAT
7．三端穩(wěn)壓器：VO、ID
被測元件曲線圖：
隨機標準測試夾具
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