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薄膜測(cè)厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)
閱讀：422 發(fā)布時(shí)間：2019-7-8
薄膜測(cè)厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)
采用進(jìn)口傳感器，測(cè)厚分辨率高達(dá)0.1微米選用傳動(dòng)元件，確保了試驗(yàn)結(jié)果的穩(wěn)定性與準(zhǔn)確性。
大液晶屏顯示，操作簡(jiǎn)便，配備微型打印機(jī)直接打印試驗(yàn)報(bào)告。
另外具有電腦通信接口，通過(guò)選購(gòu)軟件實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)、查詢(xún)、打??；軟件功能強(qiáng)大，可將成組試驗(yàn)數(shù)據(jù)用柱形圖或列表方式進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，試結(jié)報(bào)告可直接在局域網(wǎng)或廣域網(wǎng)中進(jìn)行傳輸。
典型的基底材料為：
SiGe、GaAs、ZnS、ZnSe、鋁丙烯酸、藍(lán)寶石、玻璃、聚碳酸酯、聚合物、石英。
儀器具有開(kāi)放性設(shè)計(jì)，儀器的光纖探頭可很方便地取出，通過(guò)儀器附帶的光纖適配器（如圖所示）連接到帶C-mount的顯微鏡（顯微鏡需另配），就可以使本測(cè)量?jī)x適用于微區(qū)（>10μm，與顯微鏡放大率有關(guān)）薄膜厚度的測(cè)量。
強(qiáng)大的軟件功能：
界面友好，操作簡(jiǎn)便，用戶(hù)點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)就可以完成測(cè)量。便捷快速的保存、讀取測(cè)量得到的反射譜數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)處理功能強(qiáng)大，可同時(shí)測(cè)量多達(dá)四層的薄膜的反射率數(shù)據(jù)。一次測(cè)量即可得到四層薄膜分別的厚度和光學(xué)常數(shù)等數(shù)據(jù)。材料庫(kù)中包含了大量常規(guī)的材的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)。用戶(hù)可以非常方便地自行擴(kuò)充材料數(shù)據(jù)庫(kù)。
采用進(jìn)口傳感器，測(cè)厚分辨率高達(dá)0.1微米選用傳動(dòng)元件，確保了試驗(yàn)結(jié)果的穩(wěn)定性與準(zhǔn)確性。
大液晶屏顯示，操作簡(jiǎn)便，配備微型打印機(jī)直接打印試驗(yàn)報(bào)告。
另外具有電腦通信接口，通過(guò)選購(gòu)軟件實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)、查詢(xún)、打??；軟件功能強(qiáng)大，可將成組試驗(yàn)數(shù)據(jù)用柱形圖或列表方式進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，試結(jié)報(bào)告可直接在局域網(wǎng)或廣域網(wǎng)中進(jìn)行傳輸。
典型的基底材料為：
SiGe、GaAs、ZnS、ZnSe、鋁丙烯酸、藍(lán)寶石、玻璃、聚碳酸酯、聚合物、石英。
儀器具有開(kāi)放性設(shè)計(jì)，儀器的光纖探頭可很方便地取出，通過(guò)儀器附帶的光纖適配器（如圖所示）連接到帶C-mount的顯微鏡（顯微鏡需另配），就可以使本測(cè)量?jī)x適用于微區(qū)（>10μm，與顯微鏡放大率有關(guān)）薄膜厚度的測(cè)量。
強(qiáng)大的軟件功能：
界面友好，操作簡(jiǎn)便，用戶(hù)點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)就可以完成測(cè)量。便捷快速的保存、讀取測(cè)量得到的反射譜數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)處理功能強(qiáng)大，可同時(shí)測(cè)量多達(dá)四層的薄膜的反射率數(shù)據(jù)。一次測(cè)量即可得到四層薄膜分別的厚度和光學(xué)常數(shù)等數(shù)據(jù)。材料庫(kù)中包含了大量常規(guī)的材的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)。用戶(hù)可以非常方便地自行擴(kuò)充材料數(shù)據(jù)庫(kù)。