光學(xué)顯微鏡在地質(zhì)分析已成為常規(guī)研究技術(shù)之一，其優(yōu)勢首先在于光學(xué)檢測的無損性，對樣品的分析提供安全保障；其次是大距離景深，可以更清晰的觀測微區(qū)形貌；第三是微區(qū)形貌的3D建模和測量功能，可對微區(qū)物理結(jié)構(gòu)特征進行量化表征。
本次課程通過介紹不同類型的徠卡光學(xué)顯微鏡在地質(zhì)行業(yè)的應(yīng)用，幫助您選擇最合適的設(shè)備進行分析、研究。
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偏光顯微鏡的作用及基礎(chǔ)認識
1、單偏光下的晶體特性
礦物突起
礦物糙面
礦物形態(tài)
解理
礦物顏色
晶體的多色性與吸收性
2、正交偏光下的晶體特性
礦物雙晶的觀察
礦片消光類型及消光角的測定
干涉色
礦物延性符號的測定
3、錐光鏡下的晶體特性
確定一軸晶還是二軸晶
測定光性符號
測量光軸角的大小
DM4P常規(guī)配置介紹
部分巖石樣品成像效果
云母類相關(guān)樣品顯微鏡下成像效果
偏光顯微鏡也有許多配置可供選擇，比如：顯微鏡熱臺、陰極發(fā)光儀、分光光度計等多樣化應(yīng)用配置需求，滿足不同類型研究者的需求
徠卡光學(xué)觀測與成分分析二合一系統(tǒng)：DM6M LIBS系統(tǒng)也可以滿足此類樣品的檢測，從目視分析到元素檢測，在短短幾秒鐘內(nèi)快速識別元素且無需額外樣品制備。
了解更多：徠卡顯微
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