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測量晶粒度是金相檢驗工作中經(jīng)常進行的檢驗項目。傳統(tǒng)的方法是參照有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)(GB6394-2002)中的標(biāo)準(zhǔn)圖片，采用與標(biāo)準(zhǔn)圖片相比較的方法評定出晶粒度級別，此方法簡便、速度快，但主觀上的誤差也比較大。若采用GB6394中規(guī)定的另外兩種方法，即面積法和截點法(仲裁方法)，雖然可獲得準(zhǔn)確的測量結(jié)果，但這兩種方法使用起來很不方便，其繁瑣程度令人望而生畏。如果使用圖像分析儀采用截點法進行晶粒度測定，則可以直接而迅速地求出晶粒度級別。

截點法是通過統(tǒng)計給定長度的測量網(wǎng)格上的晶界截數(shù)來測定晶粒度的，其晶粒度級別指數(shù)G的計算公式為：

G=-3.2877+6.6439lg(M×N/L)

式中：L-所使用的測量網(wǎng)格長度(mm)

M-觀察用的放大倍數(shù)

N-測量網(wǎng)格L上的截點數(shù)

L、M為已知數(shù)，只需測得N，圖像分析儀就可以得出晶粒度級別。在實測工作時，由于晶粒內(nèi)部可能存在各種析出物以及因腐蝕控制不當(dāng)而造成晶界斷裂，給準(zhǔn)確測定帶來一定的困難，需采用圖像分析儀中的腐蝕與膨脹功能，去除晶粒內(nèi)的析出物和對晶界進行重建，以得到完整的晶粒圖像。更多關(guān)于金相分析儀對晶粒度的自動測定方法的資料，請咨詢南京同普分析儀器制造有限公司技術(shù)部。
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