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前言

我國是世界主要鋁錠進出口國之一，而鋁錠作為重要的工業(yè)原料 ，廣泛應用于機械、航空、型 材合金、食品包裝、電線、電纜、耐火材料、催化劑載體、阻燃劑、精密電子工業(yè)以及jian端科學等眾多 工業(yè)和科研部門，鋁錠中雜質元素含量的高低將直接或間接地影響到導電材料的導電及導熱性 能、各種型材合金的質量與性能、耐火材料及催化劑載體和阻燃劑的性能與用途等［1］，因此把好進 出口鋁錠的質量關顯得尤為重要。 目前鋁錠中雜質元素測定的常用方法有原子吸收光譜法 T ISH1306、光度法和極譜法 T ISH1352－T ISH1365、發(fā)射光譜法 T ISH1303、光電光譜分析法 T ISH1305、化學法 ISO793－795以及國標 GB6987等，而這些方法中有些是單元素分析，分析手續(xù) 繁瑣，周期較長。 而用 ICP-AES 法直接測定鋁錠中雜質元素尚未見有報道。 由于 ICP光源激發(fā)溫度高，譜線比較豐富，可選擇的譜線范圍大，且可以多元素同時分析，目前已廣泛在分析測試中使 用，同時也為了適應鋁錠進出口檢驗快速準確的實際需要，因而我們用 ICP-AES 對鋁錠中八種雜 質元素同時測定的方法進行了研究，采用基體匹配法進行基體干擾校正，采用干擾系數(shù)法扣除元素 間光譜干擾引起的分析偏差，回收率在92．9％－105％之間，相對標準偏差為0．82％－2．32％，并 對實際樣品進行 ICP-AES 法與其他化學法對比實驗測定，結果表明該方法快速、簡便、準確，這對 進出口鋁錠日常檢驗的光譜分析具有重要的實際意義。

• 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀

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