安捷倫科技（中國）有限公司
安捷倫半導體無機元素分析概覽
檢測樣品：半導體
檢測項目：元素分析
方案概述：ICP-MS 作為一種金屬元素分析儀器應用于半導體產(chǎn)業(yè)鏈，始于 20 世紀 80 年代。隨著半導體制程的不斷迭代，整個行業(yè)對 ICP-MS 的性能提出了越來越高的要求。過去 30 年來，位于日本東京的安捷倫 ICP-MS 全球研發(fā)中心與半導體產(chǎn)業(yè)鏈端客戶密切合作，引領著 ICP-MS 在全球半導體產(chǎn)業(yè)鏈中的應用不斷創(chuàng)新。
ICP-MS 作為一種金屬元素分析儀器應用于半導體產(chǎn)業(yè)鏈，始于 20 世紀 80 年代。隨著半導體制程的不斷迭代，整個行業(yè)對 ICP-MS 的性能提出了越來越高的要求。過去 30 年來，位于日本東京的安捷倫 ICP-MS 全球研發(fā)中心與半導體產(chǎn)業(yè)鏈端客戶密切合作，引領著 ICP-MS 在全球半導體產(chǎn)業(yè)鏈中的應用不斷創(chuàng)新。
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