YOKOGAWA光譜分析儀憑借與光測試測量行業(yè)客戶的長期合作經驗，設計出了世界上享有盛譽的光譜分析儀，它可靠、靈活，具有鮮明的技術特點，是各種光學應用器件及系統(tǒng)測量的高效工具。YOKOGAWA AQ6370系列光譜分析儀(OSA) 可以滿足各種行業(yè)的研發(fā)中心或生產中心的特定測試和測量需求。超過40年的專業(yè)經驗 2002年收購安藤電機以后，YOKOGAWA成為光譜分析儀的供應商。如今，憑借40多年的光測試經驗，YOKOGAWA可以為客戶提供全范圍的OSA系列產品，專門用于準確、快速地測量各種應用中光器件以及系統(tǒng)的性能。

光學性能和特性：  分辨率(高達20pm*) 和動態(tài)范圍(高達78dB**)的單色鏡結構可以檢測相近的光譜信號，從而分離它們并進行精確測量。靈敏度 (低至-90dBm*)可以準確、快速測量低功率光信號，無需對多次測量進行平均。此外，啟用大動態(tài)測量模式后，通過減少雜散光的影響，可以zui大限度發(fā)揮其動態(tài)范圍性能。雜散光是光電探測器輸入強光信號后導致的不安定因素。

最寬測量功率量程 (高達110dB*) 78 dB高品質光電探測器和增益電路的智能設計讓AQ6370系列擁有了極寬的測量功率范圍。OSA可以高精度分析非常強以及非常弱的信號，并且不會讓儀器受損。

AQ6370E AQ6375E AQ6373E AQ6376E AQ6374E AQ6377  

AQ6370E電信行業(yè)OSA市場，特點： 標準機型和高性能機型有兩種機型可供選擇，高性能機型可以提供的波長精度更高，動態(tài)范圍更大。波長范圍: 600 ~ 1700nm由于可測量波長范圍廣，AQ6370E適合測試用于單模和多模傳輸?shù)臏y試器件。

AQ6373E專為可見光測量而優(yōu)化的高性能OSA，特點 ：波長范圍: 350 ~ 1200nm波長分辨率設置: 0.01 ~ 10nm [高分辨率機型] 0.02 ~ 10nm [標準，限制型機型]此高分辨率機型非常適合用于可見光的光譜測量。*可在350 ~ 600nm波長范圍內設置0.01nm。超寬可測功率范圍: -80 ~ +20dBm波長精度: ±0.05nm動態(tài)范圍: 60dB顏色分析功能

AQ6374E覆蓋從可見光到通信波長的寬范圍OSA AQ6374E覆蓋了350 ~ 1750nm的寬范圍波長，包括可見光(380 ~ 780nm)和通信領域。

AQ6375E (2μm) 覆蓋SWIR區(qū)域的長波長OSA AQ6375E不但覆蓋NIR區(qū)域，也覆蓋SWIR區(qū)域，用于環(huán)境檢測和醫(yī)療應用。

AQ6376E (3μm) 覆蓋SWIR和MWIR區(qū)域的長波長OSA AQ6376E覆蓋MWIR區(qū)域，通常用于環(huán)境檢測和醫(yī)療應用。 特點： 波長范圍:  1500 ~ 3400nm

AQ6377 (5μm) 覆蓋MWIR區(qū)域的長波長OSA AQ6377覆蓋MWIR區(qū)域，通常用于環(huán)境檢測和醫(yī)療應用。 特點波長范圍:  1900 ~ 5500nm