ET200A KOSAKA小坂研究所臺(tái)階儀/粗糙度輪廓儀
參考價(jià) | ¥ 55000 |
訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 美薩科技(蘇州)有限公司
- 品牌 KOSAKA/小坂研究所
- 型號(hào) ET200A
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/7/26 9:33:31
- 訪問次數(shù) 44
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,包裝/造紙/印刷,汽車及零部件 | 發(fā)貨 | 蘇州 |
產(chǎn)地 | 日本 |
KOSAKA小坂研究所臺(tái)階儀/粗糙度輪廓儀
KOSAKA小坂研究所臺(tái)階儀/粗糙度輪廓儀
臺(tái)階儀可以應(yīng)用在半導(dǎo)體,光伏/太陽能,光電子,化合物半導(dǎo)體,OLED,生物醫(yī)藥,PCB封裝等領(lǐng)域的薄膜厚度,臺(tái)階儀測(cè)量薄膜厚度,臺(tái)階高度,粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),劃痕深度,磨損深度,薄膜應(yīng)力(曲定量率半徑法)等定量測(cè)量方面。其高精度,高重復(fù)性,自動(dòng)探索樣品表面臺(tái)階儀/膜厚儀ET4000系列產(chǎn)品參數(shù)
最大試片尺寸 | 210×210mm~300×400mm |
---|---|
重現(xiàn)性 | 1σ 0.5nm以內(nèi) |
測(cè)定范圍 | Z:100um X:100~305mm (Y移動(dòng)量:150~400mm) |
分解能 | Z:0.1nm X:0.1um |
測(cè)定力 | 0.5UN~500UN (0.05mg-50mg) |
臺(tái)階儀可以應(yīng)用在半導(dǎo)體,光伏/太陽能,光電子,化合物半導(dǎo)體,OLED,生物醫(yī)藥,PCB封裝等領(lǐng)域的薄膜厚度,臺(tái)階儀測(cè)量薄膜厚度,臺(tái)階高度,粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),劃痕深度,磨損深度,薄膜應(yīng)力(曲定量率半徑法)等定量測(cè)量方面。其高精度,高重復(fù)性,自動(dòng)探索樣品表面
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