化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>電子顯微鏡>掃描電鏡(SEM)>SEM4000Pro 國(guó)儀量子 SEM4000Pro場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
SEM4000Pro 國(guó)儀量子 SEM4000Pro場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
- 公司名稱 北京中儀訊聯(lián)科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào) SEM4000Pro
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/7/8 16:05:32
- 訪問(wèn)次數(shù) 13
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SEM4000Pro是一款分析型熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡,配備了高亮度、長(zhǎng)壽命的肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍。三級(jí)磁透鏡設(shè)計(jì),束流可達(dá)200 nA,在EDS、EBSD、WDS等應(yīng)用上具有明顯優(yōu)勢(shì)。標(biāo)配低真空模式,以及高性能的低真空二次電子探測(cè)器和插入式背散射電子探測(cè)器,可觀察導(dǎo)電性弱或不導(dǎo)電樣品。標(biāo)配的光學(xué)導(dǎo)航模式,以及直觀的操作界面,讓您的分析工作倍感輕松。
- 超高分辨率(0.9 nm@30 kV)
- 低真空模式(180 Pa)
- 三級(jí)磁透鏡設(shè)計(jì)
- 200 nA大束流(選配)
- 機(jī)械優(yōu)中心樣品臺(tái)
- 快速換樣倉(cāng)(8寸)
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
01 配備高亮度、長(zhǎng)壽命的肖特基熱場(chǎng)發(fā)射電子槍
02 分辨率高,30 kV 下優(yōu)于 0.9 nm 的極限分辨率
03 三級(jí)磁透鏡設(shè)計(jì),束流可調(diào)范圍大,支持 200 nA 的分析束流
04 無(wú)漏磁物鏡設(shè)計(jì),可直接觀察磁性樣品
05 標(biāo)配低真空模式,以及高性能的低真空二次電子探測(cè)器和插入式背散射電子探測(cè)器
06 標(biāo)配的光學(xué)導(dǎo)航模式,中文操作軟件,讓分析工作更輕松
應(yīng)用案例
產(chǎn)品參數(shù)
關(guān)鍵參數(shù) | 高真空分辨率 | 0.9 nm @ 30 kV,SE |
低真空分辨率 | 2.5 nm @ 30 kV,BSE,30 Pa | |
1.5 nm @ 30 kV, SE, 30 Pa | ||
加速電壓 | 200 V ~ 30 kV | |
放大倍率 | 1 ~ 1,000,000 x | |
電子槍類型 | 肖特基熱場(chǎng)發(fā)射電子槍 | |
樣品室 | 真空系統(tǒng) | 全自動(dòng)控制 |
低真空模式 | 180 Pa | |
攝像頭 | 雙攝像頭 | |
(光學(xué)導(dǎo)航+樣品倉(cāng)內(nèi)監(jiān)控) | ||
行程 | X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm | |
T: -10°~+70°,R: 360° | ||
探測(cè)器和擴(kuò)展 | 標(biāo)配 | 旁側(cè)二次電子探測(cè)器(ETD) |
低真空二次電子探測(cè)器(LVD) | ||
插入式背散射電子探測(cè)器(BSED) | ||
選配 | 能譜儀(EDS) | |
背散射衍射(EBSD) | ||
插入式掃描透射探測(cè)器(STEM) | ||
樣品交換倉(cāng) | ||
軌跡球&旋鈕控制板 | ||
軟件 | 語(yǔ)言 | 中文 |
操作系統(tǒng) | Windows | |
導(dǎo)航 | 光學(xué)導(dǎo)航、手勢(shì)快捷導(dǎo)航 | |
自動(dòng)功能 | 自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)像散 |

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