Morphologi 4 精選 Malvern馬爾文 Morphologi 4-ID粒度分析儀
參考價(jià) | ¥ 25000 |
訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 山金工業(yè)(深圳)有限公司
- 品牌 MALHATY/丸八
- 型號(hào) Morphologi 4 精選
- 產(chǎn)地 日本大阪
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/7/5 12:01:36
- 訪問次數(shù) 64
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品/農(nóng)產(chǎn)品,制藥/生物制藥,汽車及零部件,電氣,綜合 | 型號(hào) | Epsilon |
---|---|---|---|
出力 | 10 W(最大50 kv. 1.0 mA) | 檢測(cè)器 | 高靈敏度硅漂移檢測(cè)器SDD10 |
范圍 | Na~Am | 過濾器 | 6種類 (Cu 300 um,Cu 500 um,Al 50 μm, Al 200 um, Ti 7 |
外部寸法(WXDxH)、重量 | 395x375x384毫米()。24公斤 | 液氮、真空系統(tǒng) | 有 |
電源 | 100 V-240 V.250 VA. 50/60 Hz | 界面 | 局域網(wǎng)、VGA、USB、HDMI接口 |
Malvern馬爾文 Morphologi 4-ID粒度分析儀
Malvern馬爾文 Morphologi 4-ID粒度分析儀
Aeris緊湊型X射線衍射儀
臺(tái)式X射線衍射儀(XRD)
我們的臺(tái)式 X 射線衍射 (XRD) 儀器 Aeris 可提供此前只有大型落地式儀器才具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和速度。
您面臨這些挑戰(zhàn)嗎?
XRD設(shè)備價(jià)格昂貴,難以決定購買
設(shè)備較大,沒有足夠的空間安裝。
測(cè)量和操作復(fù)雜,沒有專業(yè)知識(shí)很難使用
測(cè)量和分析需要時(shí)間,導(dǎo)致業(yè)務(wù)運(yùn)營延遲
依賴外包分析和等待結(jié)果的時(shí)間
對(duì)小型設(shè)備的準(zhǔn)確性和可靠性的擔(dān)憂
Aeris 內(nèi)置觸摸屏和直觀的軟件,方便任何人使用。數(shù)據(jù)輸出可以使用與落地式 XRD 儀器相同的 High Score 分析軟件進(jìn)行詳細(xì)分析,用于化合物識(shí)別、定量分析、結(jié)晶度分析、晶粒尺寸分析、晶相的 Rietveld 定量分析以及晶體結(jié)構(gòu)分析。Aeris
是 Malvern Panalytical 的 XRD 儀器,為工業(yè)臺(tái)式應(yīng)用提供最佳的數(shù)據(jù)采集和全自動(dòng)化功能。Aeris 是一款經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的 XRD 儀器,提供四個(gè)版本(水泥版、礦物版、金屬版和研究版),以滿足您特定的應(yīng)用需求。
OmniTrust兼容:適用于制藥監(jiān)管環(huán)境的解決方案
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版本
特征
配件
支持
客戶評(píng)價(jià)
相關(guān)資源
版本
Aeris 研究版
我們提供準(zhǔn)確的通用材料分析解決方案,滿足您的所有需求。
Aeris 研究版
Aeris水泥版
直接研究水泥和中間體的礦物組成。
Aeris水泥版
Aeris 礦物版
多功能礦石分析儀,可供采礦業(yè)的任何人使用。
Aeris 礦物版
Aeris Metals 版
可靠、快速地分析燒結(jié)體、還原鐵和殘余奧氏體。
Aeris Metals 版
Aeris 制藥應(yīng)用
藥物開發(fā)和制造的固體形態(tài)分析
Aeris 制藥應(yīng)用
特征
繼承 型號(hào)光學(xué)系統(tǒng)的臺(tái)式型號(hào)
通常,臺(tái)式X射線衍射儀使用的測(cè)角儀體積小巧輕便。Aeris配備了與高精度落地式X射線衍射儀(XRD)類似的測(cè)角儀,以及X射線管和高速探測(cè)器。
高靈敏度,可檢測(cè)出 1% 或更少的晶相和多態(tài)性
符合 21 CFR 第 11 部分的數(shù)據(jù)完整性軟件
水平采樣系統(tǒng)消除了粉末樣品掉落的風(fēng)險(xiǎn)
無需冷卻水設(shè)備,大大減少安裝和維護(hù)成本
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檢測(cè)靈敏度和分辨率
與傳統(tǒng)的臺(tái)式粉末X射線衍射(XRD)相比,低角度下的背景有所降低,因此更容易檢測(cè)到微小的峰值。
此外,即使是臺(tái)式X射線衍射(XRD),它也實(shí)現(xiàn)了小于0.04°半寬的輪廓分辨率。 它可有效進(jìn)行精確的Rietveld分析。
精度和再現(xiàn)性
通過安裝與 X射線衍射儀器(XRD)相當(dāng)?shù)母呔葴y(cè)角儀,可以獲得角度線性在±0.02°以內(nèi)的高可靠性數(shù)據(jù),實(shí)現(xiàn)良好的測(cè)量重復(fù)性和再現(xiàn)性。
安全性
X射線照射單元、測(cè)量單元和檢測(cè)系統(tǒng)都是密封的,確保安全性。 測(cè)量時(shí),將樣品放置在儀器外部的樣品臺(tái)上,并自動(dòng)傳送到測(cè)量單元并開始測(cè)量操作。
提供豐富晶體信息的日語XRD研究軟件高分
靈活分析
利用 算法的搜索匹配功能實(shí)現(xiàn)高精度識(shí)別
無需改變?cè)几袷郊纯煞治鰯?shù)據(jù)
內(nèi)部開發(fā)的 Rietveld 細(xì)化算法經(jīng)過數(shù)十年的改進(jìn)
可靈活應(yīng)用高階函數(shù)和多種模型,實(shí)現(xiàn)高精度擬合。
聚類分析功能自動(dòng)對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行分類
PLS(偏線性回歸)分析可以對(duì)天然產(chǎn)品樣本等復(fù)雜數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析
實(shí)用功能
X 射線衍射所需的高級(jí)衍射功能 集成到一個(gè)軟件中
一款軟件,涵蓋從研究人員的高級(jí)衍射到 QA/QC 應(yīng)用的所有內(nèi)容
保存的分析條件可自動(dòng)處理多個(gè)數(shù)據(jù),并可一次導(dǎo)出任何參數(shù)。
復(fù)制/粘貼和撤消/重做功能允許您調(diào)整配件
位圖掃描轉(zhuǎn)換器可以將紙質(zhì)圖表轉(zhuǎn)換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù),讓您可以讀取舊數(shù)據(jù)或其他公司的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較分析。
無需特殊操作環(huán)境
綜合的
從數(shù)據(jù)分析到輸出和用戶數(shù)據(jù)庫創(chuàng)建
與其他 Malvern Panalytical X 射線衍射 (XRD) 產(chǎn)品(Empyrean、X'Pert 系列)相同
High Score主要用于身份識(shí)別,可擴(kuò)展為High Score Plus(Rietveld分析功能)
對(duì)于那些剛接觸 X 射線分析的人來說
如何用XRD識(shí)別化合物并分析樣品中的晶體:首先,將單色(單波長)X射線以不同角度照射到粉末上。如果樣品含有晶體,當(dāng)角度滿足“布拉格條件”時(shí),會(huì)出現(xiàn)由晶面間距引起的峰。該峰出現(xiàn)的“角度位置”表示該晶體 的“面間距”。換句話說,可以通過峰的位置和強(qiáng)度來估計(jì)所含晶體的種類和數(shù)量,從而進(jìn)行定性(鑒定)甚至定量分析。此外
,還可以分析晶粒尺寸、晶體畸變和晶格常數(shù)等參數(shù)。
如果樣品不含晶體成分,即非晶態(tài),則不會(huì)出
我司代理及優(yōu)勢(shì)品牌一覽明細(xì):
代理品牌:CCS晰寫速SEN日森、EYE巖崎、REVOX萊寶克斯、SERIC索萊克
SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、HAYASHI 林時(shí)計(jì)、NPM日脈
NS日本科學(xué)、DRY-CABI東利繁、TOKISANGYO東機(jī)
SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山、Kakuhunt寫真化學(xué)、NIPPON GEAR日本齒輪
NIDEC尼得科、MIYACHI天田、TORAY 東麗
優(yōu)勢(shì)品牌:USHIO牛尾、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克、FUNATECH船越龍、ORC歐阿西
SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂詰、TORAY東麗、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU電色、KKIMAC
S-VANS斯萬斯、ORIHARA折原、LUCEO魯機(jī)歐、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光學(xué)
AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA東亞電波、OKANO岡野、ANRITSU安立計(jì)器
IMV艾目微、MITUTOYO三豐、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三榮、HEIDON新東科學(xué)KURABO倉紡、SHOWA昭和、THINKY新基、AIKOH愛光、SEM坂本電機(jī)
SURUGA駿河、ACCRETECH東京精密、SANSYO三商、ITOH伊藤、NAGARISHI成茂、
RKC理化、MACOME碼控美、EIWA榮和、EXCEL艾庫斯、YODOGAWA淀川等
優(yōu)勢(shì)產(chǎn)品:日本紫外線照度計(jì)、紫外線裝置燈管、LED視覺光源、表面檢查燈、手持檢測(cè)燈
變色燈箱、色差儀、鹵素光源裝置、氧氣濃度計(jì)、焊接機(jī)、應(yīng)力表面檢查儀、LED光源機(jī)、電子天平、粘度計(jì)、膜厚計(jì)、恒流泵、采樣泵、PH計(jì)、水分計(jì)、地震測(cè)試儀、脫泡攪拌機(jī)、壓力傳感器、氣體檢測(cè)儀、接近開關(guān)、拉拔機(jī)、異音檢測(cè)儀、應(yīng)變測(cè)試儀、拉針儀、水平測(cè)試儀等
氣動(dòng)元件:SMC FESTO CKD,MAC,安沃馳AVENTICS,雄克SCHUNK,小金井KOGANEI,諾冠NORGREN,寶德BURKERT,力士樂REXROTH,濱霸BIMBA,康茂勝CAMOZZI,PIAB
傳感開關(guān):邦納BANNER,巴魯夫BALLUFF,皮爾茲PILZ,易福門IFM,西克SICK,圖爾克TURCK,良信,安士能EUCHNER,倍加福P+F,穆爾MURR,倍福BECKHOFF,德森克DI-SORIC,施邁賽SCHMERSAL,基恩士KEYENCE,歐姆龍OMRON,
電氣控制:西門子SIEMENS,施耐德 SCHNEIDER,伊頓-穆勒EATON,羅克韋爾A-B,ABB,三菱MITSUBISHI,丹佛斯DANFOSS,倫茨LEUZE,SEW
端子連接器:菲尼克斯PHOENIX,魏德米勒WEIDMULLER,浩亭HARTING,高松電子