化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>電子顯微鏡>透射電子顯微鏡(透射電鏡/TEM)>JEM-F200 日本電子JEOL場(chǎng)發(fā)射透射電鏡F200
JEM-F200 日本電子JEOL場(chǎng)發(fā)射透射電鏡F200
- 公司名稱 上海途哲電子設(shè)備有限公司
- 品牌 日本電子
- 型號(hào) JEM-F200
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/5/15 17:29:04
- 訪問(wèn)次數(shù) 289
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靜電放電模擬器,ESD測(cè)試儀、雷擊浪涌測(cè)試儀,高低溫試驗(yàn)箱,快速溫變?cè)囼?yàn)箱,冷熱沖擊試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,高速攝像機(jī),顯微鏡、掃描電鏡、第三方檢驗(yàn)檢測(cè)業(yè)務(wù)等。
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 熱場(chǎng)發(fā)射 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池,綜合 |
日本電子JEOL場(chǎng)發(fā)射透射電鏡F200詳細(xì)說(shuō)明:
日本電子JEOL場(chǎng)發(fā)射透射電鏡F200JEM-F200的外觀和操作模式基于“智能化”的理念進(jìn)行了全新的設(shè)計(jì)。全新的人機(jī)界面使得用戶可以專注于電鏡觀察和分析工作。得益于日本電子在電子光學(xué)領(lǐng)域多年的積累,新設(shè)備采用了球差電鏡的高穩(wěn)定度的設(shè)計(jì)理念,該設(shè)備的機(jī)械穩(wěn)定度和電氣穩(wěn)定度得以大大改善,從而可以保證更加出色的性能。
JEM-F200 配置肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍,或者冷場(chǎng)發(fā)射電子槍*,高亮度和高穩(wěn)定性的場(chǎng)發(fā)射電子槍可以極大提高觀察和分析效率。
對(duì)于冷場(chǎng)電子槍,可以獲得更高亮度和更小能量發(fā)散度的電子源,亮度高于8x108A/cm2·sr,能量發(fā)散度可以低至0.3eV,在圖像質(zhì)量和分析效果上更勝yichou,更適合行高能量分辨率的EELS分析,可以對(duì)樣品進(jìn)行精細(xì)的化學(xué)結(jié)合態(tài)分析。
JEM-F200上引入了全新的四級(jí)聚光鏡設(shè)計(jì),可以滿足日益增加的各種應(yīng)用。在這個(gè)全新系統(tǒng)的支持下,前兩級(jí)聚光鏡可以控制束斑尺寸和束流強(qiáng)度,其形成的電子?xùn)|交叉點(diǎn)可以固定在特定的位置,然后通過(guò)后兩級(jí)聚光鏡實(shí)現(xiàn)照明區(qū)域和匯聚角度的控制。除此外,在TEM模式成像中非常重要的平行光照明模式可以像傳統(tǒng)電鏡一樣輕松實(shí)現(xiàn)。該系統(tǒng)的使用可以輕松得到高質(zhì)量的明場(chǎng)和暗場(chǎng)圖像。