DR-H203-100E 路由器電路板冷熱沖擊試驗(yàn)箱
參考價(jià) | ¥67200-¥99999/臺(tái) |
- 公司名稱 東莞市德祥儀器有限公司
- 品牌德祥儀器
- 型號(hào)DR-H203-100E
- 所在地東莞市
- 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間2024/12/6 11:59:30
- 訪問次數(shù) 350
聯(lián)系方式:樊華13650315209 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
恒溫恒濕試驗(yàn)箱,高低溫試驗(yàn)箱,冷熱沖擊試驗(yàn)箱,老化箱,氙燈耐候試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)箱,家具綜合試驗(yàn)機(jī),包裝運(yùn)輸試驗(yàn)機(jī),材料測(cè)試試驗(yàn)機(jī)等力學(xué)試驗(yàn)機(jī)
產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬(wàn)-10萬(wàn) |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
(一)、箱體構(gòu)造:
2.1.1. 內(nèi)箱材料:采用1.2mm厚SUS304#不銹鋼經(jīng)過高精度數(shù)控設(shè)備切割加工后彎折成型,接縫處采用氬弧焊接打磨拋光處理,精美大方。
2.1.2. 外箱材料:采用1.2mm厚冷軋鋼板經(jīng)過高精度數(shù)控設(shè)備切割加工后彎折成型,接縫處采用氬弧焊接打磨拋光處理后高溫噴粉烤漆處理表面,有效防止生銹,外觀烤漆處理。
2.1.3. 保溫材料:采用耐高溫玻璃纖維棉+聚氨酯硬質(zhì)發(fā)泡膠制作而成混合保溫層,保溫效果明顯。
2.1.4. 斷熱層:高溫區(qū)與低溫區(qū)間采用加厚保溫層斷熱,吊籃移動(dòng)孔連接板采用環(huán)氧樹脂板斷熱。
路由器電路板冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種用于測(cè)試電子產(chǎn)品(如路由器電路板)在快速溫差變化環(huán)境中的性能和可靠性的設(shè)備。其主要功能是通過模擬電子產(chǎn)品在高溫和低溫之間迅速切換,評(píng)估其在惡劣溫度條件下的表現(xiàn)。這種測(cè)試可以幫助制造商確保電路板在實(shí)際使用中不受溫度變化引起的物理?yè)p害,從而提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。
主要功能與特點(diǎn):
溫度范圍:
冷熱沖擊試驗(yàn)箱通常提供廣泛的溫度變化范圍,常見的范圍是從-40°C到+85°C,甚至有些設(shè)備能夠支持更廣泛的溫度范圍,如-70°C到+150°C。測(cè)試過程中,設(shè)備可以快速?gòu)牡蜏厍袚Q到高溫,模擬產(chǎn)品在惡劣溫差環(huán)境下的使用情況。快速溫度變化:
該設(shè)備能夠在短時(shí)間內(nèi)(如幾分鐘到幾十分鐘)完成冷熱溫差的轉(zhuǎn)換,模擬現(xiàn)實(shí)中可能遇到的環(huán)境溫度波動(dòng)。例如,電子設(shè)備可能在寒冷環(huán)境中啟動(dòng),隨后轉(zhuǎn)移到高溫環(huán)境中,或相反,冷熱沖擊試驗(yàn)箱能夠模擬這種快速變化。溫度變化速率:
溫度的變化速率通??烧{(diào),常見的變化速率為1°C到10°C每分鐘。通過這種溫度變化,測(cè)試電路板的可靠性,包括焊接點(diǎn)、元器件、材料的熱膨脹等方面是否出現(xiàn)問題。可靠性測(cè)試:
試驗(yàn)箱能模擬電路板在使用過程中可能經(jīng)歷的溫度應(yīng)力,檢查其在冷熱溫差交替過程中是否會(huì)出現(xiàn)故障,如電路斷裂、元器件松動(dòng)或其他物理?yè)p害。循環(huán)測(cè)試:
試驗(yàn)箱通常會(huì)設(shè)定多個(gè)冷熱循環(huán),典型的測(cè)試周期可能為幾十個(gè)甚至上百個(gè)溫度變化周期,旨在測(cè)試電路板長(zhǎng)期在溫度變化條件下的耐久性。
應(yīng)用領(lǐng)域:
路由器電路板: 主要用于測(cè)試路由器等網(wǎng)絡(luò)設(shè)備電路板的抗冷熱沖擊能力。隨著電子產(chǎn)品在不同氣候條件下的廣泛使用,路由器電路板的可靠性尤為重要,冷熱沖擊試驗(yàn)箱可以確保產(chǎn)品在高溫、低溫環(huán)境下的穩(wěn)定性。
其他電子產(chǎn)品: 除路由器外,試驗(yàn)箱也適用于其他電子產(chǎn)品(如手機(jī)、計(jì)算機(jī)主板、汽車電子等)的耐環(huán)境測(cè)試。
工作原理:
低溫測(cè)試階段: 先將試驗(yàn)箱內(nèi)部的溫度降至設(shè)定的低溫(如-40°C),并保持一定時(shí)間,模擬路由器電路板在寒冷環(huán)境下的工作狀態(tài)。
高溫測(cè)試階段: 然后快速將溫度提高至設(shè)定的高溫(如85°C或更高),模擬電路板在高溫環(huán)境下的使用狀態(tài)。
冷熱沖擊循環(huán): 設(shè)備會(huì)在設(shè)定的低溫和高溫之間快速切換,模擬快速冷熱沖擊的效果,測(cè)試電路板是否能夠穩(wěn)定運(yùn)行,以及是否出現(xiàn)物理或電氣故障。
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):
不同的行業(yè)和產(chǎn)品有不同的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),例如,路由器電路板可能符合某些國(guó)際認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn),如IEC(國(guó)際電工委員會(huì))、**UL(美國(guó)保險(xiǎn)商實(shí)驗(yàn)室)**等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。標(biāo)準(zhǔn)中通常會(huì)設(shè)定溫度變化范圍、變化速率、循環(huán)次數(shù)等要求。
測(cè)試效果:
通過使用冷熱沖擊試驗(yàn)箱,制造商能夠:
提前發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷或生產(chǎn)過程中可能產(chǎn)生的問題。
確保產(chǎn)品能夠在惡劣溫度條件下正常工作,從而提高產(chǎn)品的可靠性和用戶體驗(yàn)。
增強(qiáng)產(chǎn)品的抗干擾能力,延長(zhǎng)使用壽命。
總結(jié):
路由器電路板冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一個(gè)重要的測(cè)試設(shè)備,通過模擬快速的溫差變化,幫助制造商確保電子產(chǎn)品在多變的環(huán)境中仍能保持穩(wěn)定性和可靠性。這類測(cè)試不僅能夠提高產(chǎn)品的品質(zhì),還能有效預(yù)防因溫度變化引起的潛在故障。
相關(guān)分類
- 高低溫試驗(yàn)箱
- 濕熱試驗(yàn)箱
- 交變?cè)囼?yàn)箱
- 高低溫交變?cè)囼?yàn)箱
- 恒溫恒濕試驗(yàn)箱
- 臭氧老化試驗(yàn)箱
- 三綜合試驗(yàn)箱
- 霉菌試驗(yàn)箱
- 砂塵試驗(yàn)箱
- 鹽霧試驗(yàn)箱/鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱
- 步入式試驗(yàn)箱/步入式實(shí)驗(yàn)室
- 高溫老化試驗(yàn)箱/熱老化試驗(yàn)箱
- 紫外老化試驗(yàn)箱/耐候試驗(yàn)箱
- 氙燈耐氣候試驗(yàn)箱/老化試驗(yàn)箱
- 玻璃測(cè)試機(jī)/玻璃試驗(yàn)設(shè)備
- 低溫箱、低溫試驗(yàn)箱
- 箱式淋雨試驗(yàn)箱
- 滴水式試驗(yàn)裝置
- 淋雨試驗(yàn)裝置
- 溫變?cè)囼?yàn)箱
- 其它試驗(yàn)箱
該廠商的其他產(chǎn)品
- DR-H203-2S 光通信設(shè)備冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱
- DR-H203-2R 人工智能芯片熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱
- DR-H203-2Q 模塊芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱
- DR-H203-2P 車載傳感器冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱
- DR-H203-2O 控制單元ECU冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱
- DR-H203-2N 單通道高效冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱
- DR-H203-2N 國(guó)際通用冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱
- DR-H203-2M 可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱