白光干涉 非接觸式輪廓儀Sensofar共聚焦顯微鏡
參考價(jià) | ¥ 19800 |
訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 深圳市寶安區(qū)沙井大通儀器設(shè)備經(jīng)營(yíng)部
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) 白光干涉
- 產(chǎn)地 西班牙
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間 2025/8/14 10:59:02
- 訪問(wèn)次數(shù) 974
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 30萬(wàn)-50萬(wàn) |
---|---|---|---|
儀器種類(lèi) | 超高速激光共聚焦顯微成像系統(tǒng) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,綜合,材料領(lǐng)域 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,綜合,材料領(lǐng)域 |
Sensofar可集成光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)是我們20多年以來(lái)專注于表面測(cè)量系統(tǒng)的研發(fā)結(jié)晶,讓高精度和超高速測(cè)量得以結(jié)合。
非接觸式輪廓儀Sensofar共聚焦顯微鏡特點(diǎn):
共聚焦輪廓儀的開(kāi)發(fā)目的是,測(cè)量從光滑表面到非常粗糙表面的表面高度。共聚焦輪廓提供最高的橫向分辨率,最高可達(dá)0.14μm水平分辨率,空間采樣可減少到0.01μm,這是關(guān)鍵尺寸測(cè)量的理想選擇。高達(dá)NA(0.95)和放大倍率(150X)的物鏡可用于測(cè)量局部斜率超過(guò)70°的光滑表面。對(duì)于粗糙表面,最高可允許86°。的共聚焦算法提供了納米尺度上的垂直重復(fù)性。
干涉
PSI相移干涉法可以用于測(cè)量亞埃分辨率的高度光滑和連續(xù)表面的高度??梢允褂脴O低的放大率(2.5X)測(cè)量具有相同高度分辨率的大視場(chǎng)。
CSI相干掃描干涉法使用白光掃描光滑到中等粗糙表面的表面高度,達(dá)到1nm的高度分辨率。
大部分的生產(chǎn)環(huán)境并不十分友好——多變的工況、振動(dòng)、腐蝕性材料等都使測(cè)量任務(wù)變得更加困難。Sensofar測(cè)量系統(tǒng)良好的密封設(shè)計(jì)可防止碎屑和顆粒進(jìn)入以保持清潔,無(wú)運(yùn)動(dòng)部件的光學(xué)設(shè)計(jì)也使測(cè)量系統(tǒng)能夠長(zhǎng)期穩(wěn)定工作。
非接觸式輪廓儀Sensofar共聚焦顯微鏡Sensofar可集成光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)理念源于為質(zhì)量管控和產(chǎn)品質(zhì)量分析提供可靠的高性能產(chǎn)品。對(duì)于尺寸以及表面狀態(tài)迥異的產(chǎn)品,我們提供具有針對(duì)性的解決方案。
S neox滿足了靈活多樣, 高速,高精度的測(cè)量需求,定位為通用的工業(yè)檢測(cè)集成系統(tǒng)。
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