RTS-8數(shù)字式四探針測(cè)試儀

是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，專用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。

    儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。

    儀器采用了最新電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、精度高、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。

    本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。

 RTS-8數(shù)字式四探針測(cè)試儀技　術(shù)　指　標(biāo) ：

 測(cè)量范圍       電阻率：10-5～105 Ω.cm(可擴(kuò)展)； 

 方塊電阻：10-4～106 Ω/□(可擴(kuò)展)；

 電導(dǎo)率：10-5～105 s/cm；

 電阻：10-5～105 Ω；

可測(cè)晶片直徑         140mmX150mm(配S-2A型測(cè)試臺(tái))；

 200mmX200mm(配S-2B型測(cè)試臺(tái))；

 400mmX500mm(配S-2C型測(cè)試臺(tái))；

恒流源     電流量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔，各檔電流連續(xù)可調(diào)

數(shù)字電壓表     量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　

 分辨力：10μV；

 輸入阻抗：>1000MΩ；

 精度：±0.1% ；

 顯示：四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示；極性、超量程自動(dòng)顯示；

四探針探頭基本指標(biāo)     間距：1±0.01mm；

 針間絕緣電阻：≥1000MΩ；

 機(jī)械游移率：≤0.3%；

 探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；

 探針壓力：5～16 牛頓(總力)；

四探針探頭應(yīng)用參數(shù)     (見探頭附帶的合格證)

模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差

( 按JJG508-87進(jìn)行)      0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字

整機(jī)測(cè)量最大相對(duì)誤差         (用硅標(biāo)樣片：0.01-180Ω.cm測(cè)試)≤±5%

整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度         ≤5%

測(cè)試模式         可連接電腦測(cè)試也可不連接電腦測(cè)試

軟件功能（選配）         軟件可記錄、保存、打印每一點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù)，并統(tǒng)計(jì)分析測(cè)試數(shù)據(jù)最大值、最小值、平均值、最大百分變化、平均百分變化、徑向不均勻度、并將數(shù)據(jù)生成直方圖，也可把測(cè)試數(shù)據(jù)輸出到Excel中，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。軟件還可選擇自動(dòng)測(cè)量功能，根據(jù)樣品電阻大小自動(dòng)選擇適合電流量程檔測(cè)試。

計(jì)算機(jī)通訊接口     并口，高速并行采集數(shù)據(jù)，連接電腦使用時(shí)采集數(shù)據(jù)到電腦的時(shí)間只需要1.5  秒（在 0.1mA、1mA、10mA、100mA量程檔時(shí)）。

標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境         溫度：23±2℃；

 相對(duì)濕度：≤65%；

 無高頻干擾；

 無強(qiáng)光直射；

配置 四探針測(cè)試儀主機(jī)、探針臺(tái)、四探針探頭