深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司，專業(yè)從事半導(dǎo)體晶圓級(jí)測(cè)試，封裝工藝及檢測(cè)等系統(tǒng)集成服務(wù)。公司致力于供應(yīng)國(guó)產(chǎn)自主可控半導(dǎo)體設(shè)備，打造國(guó)內(nèi)晶圓級(jí)在片測(cè)試，器件測(cè)量，封裝工藝系統(tǒng)集成的穩(wěn)定供應(yīng)鏈，同時(shí)公司*與國(guó)內(nèi)外多家*半導(dǎo)體設(shè)備公司合作，先后引進(jìn)美國(guó)、歐洲、日本、中國(guó)臺(tái)灣等*設(shè)備與技術(shù)，整合國(guó)內(nèi)用戶需求，提供“量體裁衣”式定制化改造服務(wù)。

易捷測(cè)試合作伙伴及代理的品牌有：MPI 探針臺(tái)系列、Maury Microwave、Hanwa ESD測(cè)試系統(tǒng)、Modelithics 仿真模型及建模等，封裝測(cè)試及工藝檢測(cè)方面主要合作公司有Nordson、ThermoFisher等。

深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司，品牌：GBITEST。 致力于為用戶提供精密的半導(dǎo)體晶圓級(jí)在片測(cè)試探針臺(tái)系統(tǒng)和射頻微波器件測(cè)量系統(tǒng)，微組裝封裝工藝檢測(cè)系統(tǒng)以、失效分析系統(tǒng)以及材料測(cè)試等系統(tǒng)集成方案。特別是我們提供的探針臺(tái)在片系統(tǒng)，已被國(guó)內(nèi)客戶廣泛地應(yīng)用于I-V／C-V測(cè)試，脈沖I-V測(cè)試，RF/mmW測(cè)試，高壓、大電流測(cè)試，MEMS、芯片光耦合，光電器件測(cè)量、射頻校準(zhǔn)、晶圓級(jí)失效分析、霍爾測(cè)試、CP測(cè)試等解決方案中。主要探針臺(tái)產(chǎn)品包括：半自動(dòng)探針臺(tái)、手動(dòng)探針臺(tái)、全自動(dòng)探針臺(tái)、硅光探針臺(tái)、輻照探針臺(tái)、射頻探針臺(tái)、高低溫探針臺(tái)，射頻探針等為主的半導(dǎo)體芯片晶圓級(jí)在片測(cè)試和射頻微波測(cè)量系統(tǒng)集成解決方案。還有封裝設(shè)備