牛津儀器CMI165掌上式PCB表面鍍銅測(cè)厚儀產(chǎn)品特色：

-- 可測(cè)試高溫的PCB銅箔

-- 顯示單位可為mils，μm或oz

-- 可用于銅箔的來料檢驗(yàn)

-- 可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測(cè)試

-- 可用于電鍍銅后的面銅厚度測(cè)試

-- 配有SRP-T1，帶有溫度補(bǔ)償功能的面銅測(cè)試頭

-- 可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測(cè)試

牛津儀器CMI165掌上式PCB表面鍍銅測(cè)厚儀產(chǎn)品規(guī)格：

--利用微電阻原理通過四針式探頭進(jìn)行銅厚測(cè)量，符合EN 14571測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

--厚度測(cè)量范圍：化學(xué)銅：(0.25-12.7)μm,(0.01-0.5) mils

               電鍍銅：(2.0-254)μm, (0.1-10) mils

--儀器再現(xiàn)性:  0.08 μm at 20 μm (0.003 mils at 0.79 mils)

--強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能，包括數(shù)據(jù)記錄平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差和上下限提醒功能。

--數(shù)據(jù)顯示單位可選擇mils、μm或oz

--儀器的操作界面有英文和簡體中文兩種語言供選擇

--儀器無需特殊規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)片，同樣可實(shí)現(xiàn)蝕刻后的線型銅箔的厚度測(cè)量，可測(cè)線寬范圍低至0.2 mm

--儀器可以儲(chǔ)存9690條檢測(cè)結(jié)果（測(cè)試日期時(shí)間可自行設(shè)定）

--測(cè)試數(shù)據(jù)通過USB2.0實(shí)現(xiàn)高速傳輸，也可保存為Excel格式文件

--儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn)

--客戶可根據(jù)不同應(yīng)用靈活設(shè)置儀器

--用戶可選擇固定或連續(xù)測(cè)量模式

--儀器使用普通AA電池供電