Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡

Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡產(chǎn)品介紹：

Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡是基于原子力顯微鏡納米力學(xué)分析的自動化解決方案。它旨在以直觀和自動化的方式通過力譜和力圖研究多種或大型樣品上的材料（例如細(xì)胞，組織，支架，水凝膠和聚合物）的納米力學(xué)性能。對于多個樣品或者大起伏樣品有優(yōu)勢。

Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡產(chǎn)品特點(diǎn)：

• 從樣品安裝到得出結(jié)果只需幾個步驟

• 高起伏樣品或多個樣品自動納米機(jī)械性能分析

• 針對不同模型來測量粘彈性、硬度、黏附力與壓入深度

• 智能軟件自主處理測量需求

• 樣品高度起伏可達(dá)5mm，力譜曲線范圍Z向可達(dá) 100μm

• 專用分析軟件可用于大批量與復(fù)雜數(shù)據(jù)的輕松比對

Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡產(chǎn)品優(yōu)勢：

對大型或多個樣品的納米力學(xué)分析

ANA軟件中采用了一種直觀的基于工作流的實驗過程，系統(tǒng)的硬件元素和電機(jī)驅(qū)動，以及精心設(shè)計和控制算法，三者結(jié)合是Flex-ANA系統(tǒng)的標(biāo)志。只需單擊具有覆蓋整個可訪問的32 mm×32 mm樣品區(qū)域的大視場的概覽圖像，即可定義大型或多個樣品的測量位置。 系統(tǒng)可輕松克服高達(dá)5 mm的高度差異，并可執(zhí)行和使用多種類型的納米力學(xué)測量、分析和模式！

輕松處理要求苛刻的樣品

在實驗過程中，ANA 系統(tǒng)協(xié)調(diào)掃描頭和電動 XYZ 平移臺（范圍：32 mm × 32 mm × 5 mm）的移動，以應(yīng)對較大的樣品高度變化。該系統(tǒng)可以選擇配備額外的 100μm Z 壓電陶瓷，以擴(kuò)展力譜范圍。因此，可以輕松處理宏觀和微觀粗糙度分別在幾毫米和幾微米范圍內(nèi)的樣品，以及柔軟和粘稠的樣品。

Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡測量原理：

Nanosurf Flerx-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡通過在掃描過程中對每個像素點(diǎn)自動執(zhí)行一次力譜測量（力-距離曲線），并從中提取局部力學(xué)參數(shù)，最終生成與形貌圖精確匹配的定量力學(xué)性質(zhì)分布圖，從而在納米尺度上同時揭示樣品的表面形貌和力學(xué)異質(zhì)性。這大大提高了傳統(tǒng)單點(diǎn)力譜的效率和空間分辨率。

Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡元件：

• FlexAFM掃描頭

• C3000控制器

• ATS 204自動移動臺

• 主動式隔振臺

• 5MP輔助光學(xué)相機(jī)

• 高配計算機(jī)用于數(shù)據(jù)采集和分析

• Flex-ANA測量與分析數(shù)據(jù)

• 可選100μm Z-actuator

Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡常見工業(yè)應(yīng)用：

Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡產(chǎn)品參數(shù)：

Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡測量圖：