熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 新一代掃描電鏡JSM-7800F配備了新開發(fā)的超級混合式物鏡(SHL)，在保持*的可操作性的同時，實現(xiàn)了低加速電壓下的高分辨率，電子源采用浸沒式（in-lens）肖特基場發(fā)射電子槍，因而能以大束流電流進行穩(wěn)定的分析。
產(chǎn)品特點
 

• 新一代場發(fā)射掃描電鏡JSM-7800F配備了新開發(fā)的超級混合式物鏡(SHL)，在保持*的可操作性的同時，實現(xiàn)了低加速電壓下的高分辨率，電子源采用浸沒式（in-lens）肖特基場發(fā)射電子槍，因而能以大束流電流進行穩(wěn)定的分析。

• 通過超級混合式物鏡(SHL)進行高分辨率觀察
• JSM-7800F的物鏡采用的是靜電場和靜磁場疊加的超級混合式物鏡(SHL)，由于減少了色差及球差，*地提高了低加速電壓下的分辨率。此外，SHL不會對樣品形成磁場影響，因此觀察磁性材料的樣品和進行EBSD測試可以不受制約。

• 低加速電壓下的能量選擇
• 能量過濾器位于高位檢測器 (UED)的正下方，可以選擇能量。即使在低加速電壓下，也能夠精確地選擇二次電子和背散射電子，因而可以通過低加速電壓下的背散射電子像觀察樣品的淺表面。

• 通過Gentle Beam （即柔和光束GB模式）觀察樣品的淺表面
• 給樣品加以偏壓(GB)，對入射電子有減速、對釋放出的電子有加速作用。即使入射電子束到達樣品時的能量很低，也可以獲得高分辨率、高信噪比的圖像。如果利用能施加更高偏壓的GB模式，用幾十電子伏能量的入射電子束，就可以進行更高分辨率的觀察。

• 通過多個檢測器獲取樣品的所有信息
• JSM-7800F配有四種檢測器：高位檢測器(UED) 、高位二次電子檢測器(USD)、背散射電子檢測器(BED)和低位檢測器(LED)。UED過濾器的電壓不同，二次電子和背散射電子的數(shù)量會改變，因此可以選擇電子的能量，USD檢測被過濾器彈回的低能量電子，BED通過檢測低角度的背散射電子，能清楚地觀察通道襯度。利用LED的照明效果能夠獲得含有形貌信息的、富有立體感的圖像。

• • 應(yīng)用實例
  • 低加速電壓下的觀察
  • 利用JSM-7800F的GB模式，到達樣品的能量從10 eV開始就可以觀察。下面將到達樣品的能量設(shè)定為80 eV進行實例觀察：一個碳原子厚度的石墨薄片的表面
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    • 樣品: 石墨烯　到達能量80eV
    • 能量選擇
    • UED和USD能同時獲取背散射電子像(左圖)和二次電子像(右圖)，因此可以精確地解釋圖像。二次電子像主要反映形貌信息，金顆粒和TiO2的襯度沒有明顯不同，而背散射電子像中原子序數(shù)高的金顆粒則顯得明亮。

    • 背散射電子像

熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡危險化學(xué)品的批發(fā)、零售（在許可證有效期限及核定范圍內(nèi)經(jīng)營）。 第三類、第二類醫(yī)療器械、儀器儀表、化工產(chǎn)品（除危險化學(xué)品）、玻璃制品、五金交電、機械設(shè)備、一類醫(yī)療器械、消防器材、辦公設(shè)備、文具用品、體育用品、建材、日用品的批發(fā)、零售；教學(xué)儀器的安裝、維修；自營和代理貨物和技術(shù)的進出口，但國家限定經(jīng)營或禁止進出口的貨物和技術(shù)除外；計算機軟件開發(fā)，商品信息咨詢；色譜儀器及色譜材料的分析測試服務(wù)；實驗室設(shè)備、儀器儀表安裝、維修、維護、拆除、搬運，貨物裝卸、搬運服務(wù)以及其他按法律、法規(guī)、*決定等規(guī)定未禁止或無需經(jīng)營許可的項目和未列入地方產(chǎn)業(yè)發(fā)展負面清單的項目。（依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項目，經(jīng)相關(guān)部門批準(zhǔn)后方可開展經(jīng)營活動）