天瑞EDX 3200S PIUS-C X射線熒光光譜儀可用于稻米、小麥、谷物、煙草等作物中的重金屬元素Cd、Pb、Hg、As、Se 的快速無損檢測.

天瑞EDX 3200S PIUS-C X射線熒光光譜儀探測器：超高出SDD探測器，每秒計數(shù)可達100KCPS 提容精度及測試速度

能量分辨率：可達到128ev (計數(shù)率1000cps左右時使用Fe55測得) 分析率數(shù)值越小，性能越高

檢出限：0.036ppm (國家糧食總局的論證數(shù)據(jù))

測試時間：3分鐘粗篩,15分鐘準確定量

環(huán)保性：物理處理，直接無損測試

散熱性能良好

大屏幕顯示器，實現(xiàn)中文菜單式對話，使得顯示更明了，操作更簡單。可顯示程升曲線和基流電平（需配置采集板），在一屏畫面內(nèi)同時顯示柱箱、進樣器、檢測器等的溫度設定值和實際值，能提供更為豐富多彩的儀器信息。