布魯克D8 AdvanceX射線衍射儀采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過革命性的TWIST TUBE技術(shù)，使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點(diǎn)光源應(yīng)用（織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個衍射峰（注意不是一個衍射峰）的測量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司提供保證！*的林克斯陣列探測器可以提高強(qiáng)度150倍，不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率， 而且大幅提高了設(shè)備的探測靈敏度。 

布魯克D8 AdvanceX射線衍射儀

技術(shù)指標(biāo)： 

Theta/theta立式測角儀 
2Theta角度范圍：-110~168° 
角度精度：0.0001度           
Cr/Co/Cu靶，標(biāo)準(zhǔn)尺寸光管 
探測器：林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器          
儀器尺寸：1868x1300x1135mm               
重量：770kg 
功率：6.5kW 

應(yīng)用 

物相定性分析    結(jié)晶度及非晶相含量分析 
結(jié)構(gòu)精修及解析   物相定量分析 
點(diǎn)陣參數(shù)精確測量  無標(biāo)樣定量分析 
微觀應(yīng)變分析    晶粒尺寸分析 
原位分析      殘余應(yīng)力 
低角度介孔材料測量 織構(gòu)及ODF分析 
薄膜掠入射     薄膜反射率測量 
小角散射

技術(shù)指標(biāo)：

Theta/theta立式測角儀

2Theta角度范圍：-110~168°

角度精度：0.0001度                     

Cr/Co/Cu靶，標(biāo)準(zhǔn)尺寸光管 

探測器：林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器                  

儀器尺寸：1868x1300x1135mm                            

重量：770kg

功率：6.5kW