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FR-uProbe 微米級光學(xué)薄膜測厚儀
- 公司名稱 邁可諾技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 FR-uProbe
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/7/1 18:29:15
- 訪問次數(shù) 2525
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勻膠機(jī)，光刻機(jī)，顯影機(jī)，等離子清洗機(jī)，紫外臭氧清洗機(jī)，紫外固化箱，壓片機(jī)，等離子去膠機(jī)，刻蝕機(jī)，加熱板
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,航空航天,汽車及零部件 |
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FR-uProbe是涂層表征應(yīng)用的解決方案，要求光斑尺寸小*小微米，例如微圖案表面，具有不規(guī)則表面的樣品，其表現(xiàn)出高水平的散射光和許多其它。使用FR-uProbe，在UV / Vis / NIR上的局部薄膜厚度，光學(xué)常數(shù)，反射率，透射率和吸光度測量只需點(diǎn)擊即可。
FR-uProbe簡單地連接到大多數(shù)商用光學(xué)顯微鏡的C接口適配器，并提供：
o實(shí)時光譜測量
o薄膜厚度，光學(xué)性能，非均勻性測量
o使用集成的USB連接和高質(zhì)量彩色相機(jī)進(jìn)行成像
o顯微鏡本身的性能不受影響
工作原理
白光反射光譜（WLRS）測量在一定波長范圍內(nèi)從薄膜或多層疊堆反射的光量，入射光垂直于（垂直于）樣品表面。
通過來自界面的干涉產(chǎn)生的測量的反射光譜用于確定自支撐和支撐（在透明或部分/全反射基板上）薄膜堆疊的厚度，光學(xué)常數(shù)（n和k）等。
應(yīng)用
o大學(xué)和研究實(shí)驗(yàn)室
o半導(dǎo)體（氧化物，氮化物，硅，抗蝕劑等）
o MEMS器件（光刻膠，硅膜等）
o LED
o數(shù)據(jù)存儲
o陽極氧化
o彎曲基板上的硬/軟涂層
o聚合物涂料，粘合劑等
o生物醫(yī)學(xué)（聚對二甲苯，氣球壁厚等）
特征
o 單擊分析（無需初始猜測）
o 動態(tài)測量
o 集成USB攝像頭
o 保存視頻進(jìn)行演示
o 350+不相同的材料
o 3年免費(fèi)軟件更新
o 在Windows 7/8/10上運(yùn)行
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