| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器原理 | 光柵掃描型 |
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| 儀器種類 | 實(shí)驗(yàn)室級(jí)別 |
儀器特性及優(yōu)勢(shì)
• XDS NIR 技術(shù)確保使用簡(jiǎn)單和定標(biāo)的無(wú)縫轉(zhuǎn)移 |
• 結(jié)實(shí)耐用的倉(cāng)庫(kù)或工廠用分析儀 |
• 無(wú)需樣品制備，無(wú)需試劑，無(wú)任何廢棄物 |
• 面向集中數(shù)據(jù)庫(kù)管理的網(wǎng)絡(luò)分析儀 |
• 熱插拔模塊——幾分鐘內(nèi)即可完成更換，不會(huì)影響性能 |
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儀器簡(jiǎn)介
采用 XDS TOPA 近紅外光譜分析儀取代常規(guī)試驗(yàn)，您可以大大縮短產(chǎn)品停留時(shí)間，使實(shí)驗(yàn)室分析時(shí)間最小化。
XDS TOPA 近紅外光譜分析儀是特別針對(duì)水狀產(chǎn)品、透明液體、溶劑以及粘性樣品的實(shí)驗(yàn)室監(jiān)測(cè)而設(shè)計(jì)的。XDS TOP 近紅外光譜分析儀非常適合用于中試過(guò)程應(yīng)用和生產(chǎn)線的測(cè)量。
有了這種分析儀，可以很容易地使用一次性樣品瓶分析粘性樣品，縮短了清理時(shí)間。利用選配的樣品瓶加熱器模塊，該系統(tǒng)還能在數(shù)據(jù)分析前，提供無(wú)人值守的樣品加溫平衡（最高可達(dá) 200 °C），提高了實(shí)驗(yàn)室效率。
XDS NIR 技術(shù)不僅帶來(lái)了*的分析性能，加快了定標(biāo)方法的研發(fā)，縮短了實(shí)施時(shí)間，保證了定標(biāo)的無(wú)縫轉(zhuǎn)移。
使用*、界面友好、具有聯(lián)網(wǎng)能力的 Vision® 軟件可以輕松實(shí)現(xiàn)鑒定、定性和定量等方法。只需按下一個(gè)按鍵或單擊鼠標(biāo)就能完成精準(zhǔn)的分析。
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