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光滑表面缺陷自動化檢測系統(tǒng)

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杭州譜鐳光電技術有限公司(Hangzhou SPL Photonics Co.,Ltd)創(chuàng)立于2008年,經過近10年公司同仁共同的的努力和發(fā)展,公司在光譜儀器、激光器系統(tǒng)及配件,生物光學和量子光學等領域和應用有非常多的經驗和解決方案,同時也組建了一支專業(yè)的銷售和服務團隊。

 

公司秉承專業(yè)服務客戶為上的目標,一直嚴格要求,以盡善盡美為工作方向,和客戶一起前行。目前公司在光譜儀器和激光檢測系統(tǒng)方面有自己的研發(fā)能力,開發(fā)出了便攜式土壤重金屬分析儀(LIBS)、便攜式紅寶石標壓系統(tǒng)、顯微拉曼測量系統(tǒng)等。同時公司時刻關注較早Z前沿的技術和產品,目前代理包括微型光纖光譜儀、紅外光譜儀,飛秒激光器,納秒激光器,可調諧激光器,窄線寬激光器,He-Ne激光器等各種激光器和配件。同時代理各類光電檢測設備,包括功率計、能量計、光束質量分析系統(tǒng)、脈寬測量探測器和自相關儀、偏振態(tài)測量系統(tǒng)。還有代理各類光學配件,包括光學元器件,位移系統(tǒng),濾波片。

 

目前公司主要代理品牌如下:

美國海洋光學:光纖光譜儀及配件;

美國CEO:激光二極管,二極管側泵模塊,各類納秒激光器,激光控制器;

奧地利Montfrot:適用于便攜的超緊湊納秒高能量激光器,大功率皮秒、飛秒激光器;

美國EOT:高品質隔離器、各類光電探測器;

美國DataRay: 光束質量分析系統(tǒng)及配件;

德國CarbonVision:高品質碳纖維面包板及定制產品;

丹麥DFM:單頻激光器;

德國GRINTECH:自聚焦透鏡、生物醫(yī)學用定制透鏡系統(tǒng);

法國IRISIOME:皮秒可編程調諧激光器;

德國LIOP:超穩(wěn)定高精度光學調整架及光機械產品;

德國MRC:光束自穩(wěn)定系統(tǒng);

立陶宛QLI:高能量緊湊風冷納秒激光器,可五倍頻到213nm;

美國Axsun:OCT用高速掃頻激光光源;

ProSP:各類定制光譜系統(tǒng);

立陶宛Integrated Optics:超緊湊穩(wěn)定的半導體和DPSS激光器;

德國Class 5:高功率飛秒激光器系統(tǒng),OPCPA系統(tǒng)。

微型光纖光譜儀,激光器,激光測量儀器,光學元件,光機械

產地類別 國產

圖1 光滑表面缺陷的自動化檢測系統(tǒng)外型圖(配百級超凈工作臺)

 

 

光滑表面缺陷的自動化檢測系統(tǒng)是利用光學顯微散射暗場成像技術與*的基于數學形態(tài)學的數字圖像處理算法結合研制的新穎非接觸的檢測設備。系統(tǒng)具有環(huán)形分布的光源可以采集任意方向疵病的CCD圖像;利用光學顯微散射暗場成像可以達到對被測缺陷實現微米量級的分辨率;精密的二維掃描系統(tǒng)與數字圖像處理算法結合可以實現對大口徑表面缺陷完成子孔徑掃描和拼接;采用二元光學的標準板定標程序及可以實現對缺陷如劃痕幾何尺寸的定量檢測并精確確定光滑表面上每個缺陷的幾何參數的方位,終自動輸出缺陷檢測報告。該系統(tǒng)是浙江大學光電系現代光學儀器重點實驗室楊甬英等教授集多年基礎、數年攻關完成的目前*臺可以對各種光滑的光學元件和金屬表面的各種劃痕、麻點、碎邊等疵病實現高分辨率、快速、數字化定量檢測的*的高科技設備,可有效解決人為的目視觀察評估由于主觀因素介入導致檢測的準確度低,效率低的難題。系統(tǒng)可以應用于高精度的光學元件、激光器諧振腔、微光元件、光滑的金屬及硅片表面、手機外殼、微縮文字等各類表面缺陷的檢測和文字校驗。

儀器技術指標:

1. 被檢缺陷樣品的檢測口徑:50mm×50mm~100mm×100mm,更大口徑可由用戶提出研制;

2. 缺陷檢測分辨率:小可達微米量級;

3. 檢測的缺陷幾何特征:各種劃痕、麻點、破邊等、文字缺損校驗;

4. 照明及成像系統(tǒng):環(huán)形均勻光源照明系統(tǒng)、0.7×~4.5×變倍顯微鏡成像系統(tǒng)實現顯微散射暗場成像;

5. 檢測方法:計算機自動控制二維移導系統(tǒng)實現對光滑表面的子孔徑掃描;

6. 標準評價:利用二元光學制作標準比對板定量評估;

7. 儀器檢測精度:幾何長度相對誤差優(yōu)于2%、劃痕寬度誤差控制在微米量級;

8. 數據采集系統(tǒng):科學級CCD相機,空間分辨率約1K×1K左右或更高。

9. 自動化評估軟件要求:

  

  • 全口徑子孔徑掃描控制、圖像匹配拼接、圖像數據處理軟件;
  • 二元光學制作標準比對板數據庫及評估系統(tǒng);
  • 全口徑表面缺陷分布及類型的數據輸出;
  • 微縮文字缺損校驗評估;
  • 軟件具有友好的人機交互圖形工作界面,工作于Windows2000以上平臺。

應用范圍:

本系統(tǒng)可應用于高科技的光學、材料、微電子等國民經濟諸多領域:

1. 系統(tǒng)可以應用于高精度的光學元件、激光器諧振腔、微光元件等光滑的光學元件表面的任意方向缺陷如各種劃痕、麻點、碎邊進行非接觸的數字化定量檢測,并實時輸出檢測報告。

2. 系統(tǒng)可以對光滑的金屬及硅片表面的疵病進行非接觸的數字化定量檢測,并實時輸出檢測報告。

3. 系統(tǒng)可以對光滑的手機外殼、高精度的液晶屏進行表面的劃痕、麻點實現數字化定量檢測。

4. 對各種精密的具有微縮文字的光滑表面實現文字的缺損檢測。

圖2是對一光滑的光學元件表面缺陷進行圖像預處理后的軟件界面。

圖3是自動化顯示該元件表面缺陷位置及對缺陷信息編號的界面。

圖4 是自動化輸出缺陷(劃痕)信息報告的界面。

     

圖2 光滑表面缺陷圖像預處理后的軟件界面

 

圖3 自動化顯示缺陷位置及對缺陷信息編號的界面

 

圖4 自動化輸出缺陷(劃痕)信息報告

 

部分訂制清單:

14K高速線陣相機Zer-OSC-01

Resolution 4K;4 Lines 疊加或獨立成像;

敏感波長范圍介于500nm至650nm之間;

支持大掃描頻率200kHz;單色,

單相元大小10.56μm。

2高分辨率高速相機Zer-OSC-21

像素:500萬(2500x2000),

探測面積:6X4.5mm,

波長范圍:500-1100nm,

大采集速度:60幀/S,USB3.0傳輸。

3成像鏡頭Zer-OSM-01

同軸高分辨成像鏡頭,500萬分辨率,

工作距100mm;

4二維精密導軌Zer-100x100

行程:100x100mm,重復定位精度:1um,

分辨率:0.5um,大速度:20mm/s

5六維電控調節(jié)臺Zer-6-003

調節(jié)維度:XYZ平移,XYZ旋轉,

平移行程:10mm,

重復定位精度:300nm,分辨率:50nm,

大速度:5mm/s,旋轉角度范圍+/-2°,

重復定位精度:0.01°,分辨率:0.005°。

6高亮照明光源Zer-OSL-01

高均勻性同軸光源,同軸偏差小于2°,

出光尺寸40X40,大照度優(yōu)于50WLX

7照明用漫射板Zer-DF-64透射度30%、50%、70%可定
8大功率數字控制器Zer-OSLD-01

256級亮度控制;支持RS232通信;

支持手動調節(jié)及掉電保護;

支持頻率介于10KHZ高頻控制。

9面陣用高亮照明光源Zer-OSL-02

高均勻性同軸光源,同軸偏差小于2°,

出光尺寸60X60;大照度優(yōu)于50WLX

 



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