★彎臂式支架；10-40X  20X-80X連續(xù)變倍；

★超高亮度LED白光光源，使用壽命長；

★三種照明方式；亮域、暗域通過電子開關控制，操作更加方便；

★人性化設計結構，兩邊都有鋼絲寶石夾的安裝孔；

★寬電壓電源，輸入電壓100V--240V均能正常工作

顯微鏡的操作

• 檢查光源，調節(jié)目鏡

• 用不起毛的布擦凈寶石樣品，將寶石夾在寶石夾上

• 選擇所需照明光源

• 用低倍鏡（10倍）全面觀察寶石

• 逐漸放大倍數觀察目標

• 根據需要進行其他測試

U顯微鏡的照明方式

• 暗域法：以無反射的黑色為背景，用側光觀察，常用于觀察寶石中的內含物，如維納葉法合成剛玉中的彎曲生長紋，用該方法很容易觀察到

• 亮域法：光源由寶石的底部直接照射，這種方法一般鎖小光圈，可使寶石中細小的低突起的內含物在明亮的背景之下，呈現黑色景象

• 反射照明法：光源從寶石的上方進行發(fā)射照明，這種方法主要針對不透明或微透明的寶石，主要用來觀察寶石的表面或近表面的特征

• 散射照明法：在光源下加散射片，使光線柔和照明，這種方法主要用于觀察寶石的顏色分布特征

Z顯微鏡的主要用途

• 檢查寶石表面特征：寶石的生長紋、蝕像、劃痕、破損、對稱性、拼合面（氣泡、光澤差異）等

• 觀察寶石內部特征：內含物的種類、形態(tài)、數量、雙晶面、生長紋、顏色分布特點、初始解理、缺陷等

• 觀察寶石刻面棱重影：雙折射率大的寶石，如鋯石（DR=0.059）、橄欖石（DR=0.036）電氣石（DR=0.078）

C寶石的刻面棱重影現象

.近視折射率的測定：使用貝克線法、柏拉圖法或直接測量法，對折射率值超過折射儀測量范圍的寶石，進行近視

折射率值的測試

• 吸收光譜的觀察：以分光鏡代替鏡，并使用透射照明來檢測寶石的光譜特征

• 偏光檢測：添加上下偏振片檢查寶石的消光情況和進行多色性觀察

• 干涉圖觀察：使上下偏振片正交，用物臺下的聚光鏡提供的收斂光或加錐光鏡，可檢查寶石的干涉圖，進行寶石

軸性分析

• 顯微照相：在目鏡上裝一照相機，可直接拍下寶石中所觀測到的現象，以提供一*性照相記錄

其他用途：利用旋轉臺或分度臺進行寶石晶面夾角測量等