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韓國XRF2000X射線鍍層測厚儀

參考價 16
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    深圳市鑫捷偉科技有限公司位于深圳市南山區(qū)。華東辦事處位于江蘇省昆山市,鑫捷偉科技是是一家專業(yè)從事電鍍、PCB、SMT、半導體等電子行業(yè)品質(zhì)檢測儀器、試驗設備及輔助材料的*,為韓國MicroPioneer鍍層測厚儀直銷商及技術維護中心。

   并發(fā)展了安防以及醫(yī)療耗材銷售領域。憑借自身強大的技術后盾、經(jīng)濟實力、客戶基礎、銷售網(wǎng)絡和品牌忠誠度,不但同各生產(chǎn)廠取得了良好的彼此信任和合作關系,而且建立并完善了公司的銷售網(wǎng)絡。 

    公司下設人力資源部、研發(fā)部、貿(mào)易部、售后服務部,為用戶提供整套的解決方案,公司將追求用戶滿意度作為*目標;將創(chuàng)新協(xié)作作為*發(fā)展的策略。

   主要銷售產(chǎn)品

? 韓國MicroPioneer X射線金屬鍍層測厚儀以及元素分析儀

? 美國POLAR線路板特性阻抗測試儀

? X射線能譜分析儀

? 數(shù)字式掃描電子顯微鏡

? 錫膏測厚儀(GAM-70)

? 金相切片制造設備(切片機、研磨拋光機、金相消耗品)

? 金相切片檢查設備(金相切片測量用顯微鏡)

? 工業(yè)用顯微鏡以及各式放大鏡

? 光學投影儀

? 2D圖像測量系統(tǒng)

? 焊焬爐溫度曲線測試儀4、6、8線

? Brookfield美國博力飛粘度計、流變儀系列

? 紫外/可見光分光光度計

? 德國WTW在線水質(zhì)檢測/監(jiān)測系列

? 美國WALCHEM自動加藥控制器

? 冷熱沖擊試驗機

? 恒溫恒濕箱系列

? 鹽水噴霧試驗機

? 安規(guī)耐壓絕緣阻抗測試儀

? 銅箔剝離強度測試儀

? 凝膠固化時間測量儀

? 板材厚度測量儀

? 各式溫濕度計

? 各種可靠性試驗設備

公司秉承“質(zhì)量*、用戶*”的服務宗旨,以*的技術和理念、完善的售后

服務體系,追求用戶滿意度,鑫捷偉人將以較大的熱誠與您合作,共創(chuàng)*!

鍍層測厚儀,膜厚儀、X射線鍍層測厚儀、膜厚測量儀、無損金屬鍍層測厚儀,鍍層厚度測量儀,金屬鍍層測厚儀,電鍍層測厚儀,鍍膜測厚儀

韓國XRF2000X射線鍍層測厚儀鍍層厚度的測量方法

鍍層厚度的測量方法可分為標準曲線法和FP法(理論演算方法2種。

標準曲線法是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X射線的能量和強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。 之后以此標準曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。

FP法即是Fundamental Parameter Method的簡稱,即基本參數(shù)法

 

                                                                

韓國XRF2000X射線鍍層測厚儀

  • 標準曲線法                                                 

如圖所示,經(jīng)X射線照射后,鍍層和底材都會各自產(chǎn)生熒光X射線,我們必須對這兩種熒光X射線能夠辨別,方能進行鍍層厚度的測量。也就是說,鍍層和底材所含有的元素必需是不*相同的。這是測量鍍層厚度的先決條件。

對某種金屬鍍層樣品進行測量時,基于鍍層厚度、狀態(tài)的不同,所產(chǎn)生的熒光X射線的強度也不一樣。

鍍層厚度測量時,可采用兩種不同方法,一種是注重鍍層中的元素所產(chǎn)生的熒光X射線強度,稱為激發(fā)法。另一種是注重底材中的元素所產(chǎn)生的熒光X射線強度,稱為吸收法。這兩種方法的應用必需根據(jù)鍍層和底材的不同組合來區(qū)分使用。

鍍層厚度測量時,測量已知厚度的標準樣品而得到其厚度及產(chǎn)生的熒光X射線強度之間的關系,并做出標準曲線。然后再測量未知樣品的熒光X射線強度,得到其鍍層厚度。但是需注意的是,熒光X射線法是從得到的熒光X射線的強度來求得單位面積的元素附著量,再除以元素的密度來算出其厚度。所以,對于含有雜質(zhì)或多孔質(zhì)蒸鍍層等與純物質(zhì)不同密度的樣品,需要進行修正。

 

  • 薄膜FP

        采用薄膜FP法,只需要比標準曲線法更少的標準樣品,就能簡單迅速地得到定量的結果。

        如果樣品均勻,所使用分析線的強度就可用樣品的成分和基本參數(shù)的函數(shù)來表示。換句話說,從任意組成的樣品所產(chǎn)生的分析線強度,都可以從這基本參數(shù)來計算出,所以我們稱這種方法為基本參數(shù)法。

如果熒光X射線產(chǎn)生的深度當做限大來考慮,這方法就適用于塊體樣品;如果將熒光X射線產(chǎn)生的深度當做非常小的值(臨界厚度以下)來考慮,這方法就可以適用于薄膜樣品。

如上所述,FP法的zui大特征是可對塊體樣品進行成分分析到薄膜樣品的成分與厚度同時進行分析與測量。

 



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