MarSurf PS1表面粗糙度儀長期現貨供應

MarSurf PS1表面粗糙度儀，適用于符合標準要求的表面粗糙度測量范圍，重量輕且便攜式測量解決方案。它不僅測量峰到谷的高度，還可以給出樣品區(qū)域遇到的峰的頻率。 Elcometer還提供各種手寫筆拾音器和配件，以滿足您的所有檢查需求。

MarSurf PS1是符合標準要求表面粗糙度測量范圍的輕便便攜式測量解決方案。 該單元還適用于在廣泛的一般工業(yè)應用中評估表面粗糙度條件; 特別是樣品太大而無法帶到實驗室。 表面粗糙度的測量用Ra，Rz或Rt表示。 這些值包括峰 - 谷分布測量結合對樣本區(qū)域內峰值頻率的評估。 

•多語言顯示

•集成校準標準

篤摯儀器（上海）有限公司是德國馬爾mahr(中國區(qū))供應中心(即德國馬爾粗糙度儀經銷商，)，是中國的光學儀器、無損檢測、色譜與光譜耗材專業(yè)供應商，常年提供*的德國馬爾粗糙度儀mahr，客戶遍及。作為mahr馬爾粗糙度儀代理商我們備有大量的現貨和具有競爭力的價格。

MarSurf PS1表面粗糙度測試儀由一個手寫筆組成，該筆筆在表面上機械地繪制，在預定義的樣本長度上記錄表面粗糙度的“圖像”。測量技術提供了許多測量參數，包括：
 
Rmax：采樣長度之間zui高峰和zui低谷之間的zui大距離。
Ra：采樣長度上的平均表面粗糙度。

Rt：任何給定采樣長度內zui高峰和zui低谷之間的距離。

Rz：多個采樣長度之間zui高峰和zui低谷之間的平均距離。

一般規(guī)格：

測量單位：公制，英寸

測量原理：觸筆方法

觸控筆提供（其他觸控筆可選）：感應式滑蓋式觸筆拾取，2μm（80μin）觸針筆尖，測量力約。 0.7 mN

參數：24（公差極限）：Ra，Rq，Rz等于至R y（JIS），Rz（JIS），Rmax，Rp，Rp（ASME），Rpm（ASME），Rpk，Rk，Rvk，Mr1，Mr2，A1，A2，Vo，Rt，R3z，RPc，Rmr equiv。至Tp（JIS，ASME），RSm，R，Ar，Rx

測量范圍：350μm，180μm，90μm（自動變化）

配置文件分辨率：32nm，16nm，8nm（自動更改）

過濾器：根據DIN EN ISO 11562的相位校正型材過濾器（高斯過濾器），符合DIN EN ISO 13565-1的特殊過濾器，符合DIN EN ISO 3274標準的過濾器（可禁用）

截止：0.25mm，0.8mm，2.5mm;自動（0.010“，0.030”，0.100“）

行程長度：1.75mm，5.6mm，17.5mm;自動（0.069“，0.22”，0.69“）

移動長度（根據MOTIF）：1mm，2mm，4mm，8mm，12mm，16mm（0.040“，0.080”，0.160“，0.320”，0.480“，0.640”）

短截止值：可選擇

評價長度：1.25mm，4.0mm，12.50mm（0.050“，0.15”，0.50“）

采樣長度的數字n：可選：1到5

校準功能：動態(tài)

內存容量：zui大15個配置文件，zui多20,000結果

其他功能：阻止設置（代碼保護），日期/時間

電池：鋰離子電池

接口：USB，Mar Connect（RS232）

尺寸：140mm×50mm×70mm（5.51“×1.97”×2.76“）

可以按照以下使用：
ASTM D7127，ASME B46，DIN 4768，EN 10049，ISO 4287，ISO 4287/1，JIS B 0601