Kosaka ET150臺(tái)階儀 

    株式會(huì)社小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創(chuàng)立，也是日本*家發(fā)表光學(xué)杠桿表面粗糙度計(jì)，是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的專業(yè)廠商，主要有測(cè)定/自動(dòng)/流體三大部門(mén)。其中測(cè)定部門(mén)為代表性單位且在日本精密測(cè)定也占有一席無(wú)法被取代的地位。

     KOSAKA ET150基于 Windows XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導(dǎo)體硅片、太陽(yáng)能硅片、薄膜磁頭及磁盤(pán)、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測(cè)量的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用。ET200 能精確可靠地測(cè)量出表面臺(tái)階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。

    ET150配備了各種型號(hào)探針，提供了通過(guò)程序控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色 CCD原位采集設(shè)計(jì)，可直接觀察到探針工作時(shí)的狀態(tài)，更方便準(zhǔn)確的定位測(cè)試區(qū)域。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

二次元表面解析，可測(cè)量段差

高精度、高分辨率和良好的再現(xiàn)性

FPD面板顯示，可測(cè)定微細(xì)表面形狀、段差、粗度等

低測(cè)定力，可測(cè)定軟質(zhì)材料

主要應(yīng)用---膜厚測(cè)量

制程機(jī)臺(tái)（如曝光機(jī)、濺鍍機(jī)、蝕刻機(jī)）best recipe 找尋。例如：PVD、CVD、DLC真空濺鍍薄膜臺(tái)階、應(yīng)力測(cè)試及軟質(zhì)光阻材料等薄膜臺(tái)階測(cè)量。

技術(shù)參數(shù)：