電路板老化試驗(yàn)箱，高低溫老化試驗(yàn)箱是科文針對(duì)PCB電路板產(chǎn)品研發(fā)生產(chǎn)的一款電路板產(chǎn)品的老化試驗(yàn)箱、是根據(jù)電路板、線路板通電時(shí)的發(fā)熱量負(fù)載所設(shè)計(jì)的制冷量。所以科文電路板老化試驗(yàn)箱，高低溫老化試驗(yàn)箱是PCB、FPC、電路板、線路板等產(chǎn)品測(cè)試的*選擇，電路板高低溫老化試驗(yàn)箱生產(chǎn)廠家科文為您提供性能穩(wěn)定，溫度精度高，，使用壽命zui長(zhǎng)的。

，電路板高低溫老化試驗(yàn)箱用于測(cè)試電路板、線路板、PCB、PCB板、FPC、FPC線路板、LED、LED顯示器、LED照明、LED節(jié)能燈、LED模組、LCD、LCD模組、LCD液晶屏、LCD顯示器、塑膠、橡膠、五金、化工、涂料、建材、陶瓷、汽車、電子、電器、電腦、手機(jī)、數(shù)碼產(chǎn)品、通訊產(chǎn)品、航空、航天、軍工、船舶。

，電路板高低溫老化試驗(yàn)箱用來對(duì)電路板產(chǎn)品進(jìn)行，耐高溫、耐低溫、以及溫度循環(huán)變化條件下使用性能和貯存的適應(yīng)性、等制品檢測(cè)質(zhì)量之用。模擬產(chǎn)品及材質(zhì)經(jīng)過高溫、低溫交替變化后是否有故障、質(zhì)變、無法正常工作的情況，可以滿足不同的高低溫要求。電路板高低溫老化試驗(yàn)箱是電路板行業(yè)實(shí)驗(yàn)室品檢的*之設(shè)備。

符合標(biāo)準(zhǔn)：GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB/T2423.1-2001 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法 GB/T2423.2-2001 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法 GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗(yàn)方法 IEC60068-2-1.1990 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法 IEC60068-2-2.1974 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法 GJB150.3 高溫試驗(yàn) GJB150.4 低溫試驗(yàn)

技術(shù)參數(shù)：

型號(hào):KW-GD-80   內(nèi)形尺寸：400×500×400    外箱尺寸：970×1360×970 

型號(hào):KW-GD-150  內(nèi)形尺寸: 500×600×500    外箱尺寸：1070×1460×1070

型號(hào):KW-GD-225  內(nèi)形尺寸：500×750×600    外箱尺寸：1070×1610×1170

型號(hào):KW-GD-408  內(nèi)形尺寸: 600×850×800    外箱尺寸：1170×1710×1280

型號(hào):KW-GD-800  內(nèi)形尺寸：1000×1000×800  外箱尺寸：1550×1850×1300

型號(hào):KW-GD-1000 內(nèi)形尺寸：1000×1000×1000 外箱尺寸：1550×1850×1500

容積：80L      150L      225L       408L      800L     1000L 

注：以上尺寸如不能滿足，可根據(jù)客戶需求定制

溫度范圍：Z: 0～150℃  T:-20～150℃  F:-40～150℃  S:-70～150℃ 

溫度均勻度：±2℃   （空載時(shí)）

溫度波動(dòng)度：±0.5℃ （空載時(shí)）

升溫速率：1.0℃～3.0℃/min  

降溫速率：1.0℃～1.5℃/min  

*制冷機(jī)組：

控制系統(tǒng)及操作畫面：

科文高低溫老化試驗(yàn)箱采用由科文公司自主研發(fā)的KW-890型可程式微電腦溫濕度控制器：7英寸中英文真彩觸摸屏式人機(jī)界面（畫面對(duì)談式）電腦控制，USB曲線記錄，數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置.

優(yōu)勢(shì)一：大屏幕逼真彩色畫面：TFT LCD（LED 背光） 7英寸TFT真彩VGA（800x480）

優(yōu)勢(shì)二：人機(jī)對(duì)話式觸摸屏輸入系統(tǒng)，操作簡(jiǎn)單易學(xué)，功能強(qiáng)大，并可于LCD畫面上了解程序設(shè)定之曲線及監(jiān)測(cè)過程；

優(yōu)勢(shì)三：PV曲線/組曲線：實(shí)時(shí)表示溫、濕度PV,SV曲線,表示歷史儲(chǔ)存的曲線,表示組曲線及進(jìn)行狀態(tài)；  

優(yōu)勢(shì)四：可設(shè)定程序120組，1200段，循環(huán)次數(shù)可達(dá)999次，每段時(shí)間zui大設(shè)定99小時(shí)59分；  

優(yōu)勢(shì)五：提供USB通訊接口可備份/歷史曲線/歷史數(shù)據(jù),使用便捷；還可選配RS485接口，RS232通信接口，可通過PC隨意控制和監(jiān)視。   

優(yōu)勢(shì)六：具有程序修正、清除、預(yù)約、啟動(dòng)、停電、記憶、按鍵鎖定等功能；

優(yōu)勢(shì)七：畫面保護(hù)器功能,程式運(yùn)行時(shí)可以設(shè)定操作條件,一個(gè)段次的運(yùn)行時(shí)間（530小時(shí)59分）,每段可以設(shè)定待機(jī)開關(guān)，定值z(mì)ui大999999小時(shí)；  

優(yōu)勢(shì)八：具有多種報(bào)警功能，故障發(fā)生同時(shí)，可通過熒幕故障顯示，消除故障； 

優(yōu)勢(shì)九：把記錄錯(cuò)誤履歷,提供使用者查閱,全部畫面提供英語、中國語；  

優(yōu)勢(shì)十：BMP文件表示：通過USB下載歷史曲線為BMP圖片格式文件。

科文KW-890溫濕度控制器運(yùn)行畫面：

是科文為電路板，線路板，PCB行業(yè)開發(fā)的產(chǎn)品其中之一。還包括、電路板高低溫老化試驗(yàn)箱、電路板高低溫測(cè)試箱、電路板溫濕度環(huán)境試驗(yàn)箱、電路板恒溫恒濕試驗(yàn)箱、電路板冷熱沖擊試驗(yàn)箱、電路板高溫老化箱、電路板高溫老化房、電路板紫外光老化試驗(yàn)箱、電路板步入式高溫老化房、電路板步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室、電路板步入式高低溫試驗(yàn)室等測(cè)試設(shè)備。