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徠卡顯微系統(tǒng)(上海)貿易有限公司

化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>光學顯微鏡>其它顯微鏡> 切1納米的厚度的切片機,超薄樣本制備設備,超薄切片機

切1納米的厚度的切片機,超薄樣本制備設備,超薄切片機

具體成交價以合同協(xié)議為準

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


 

徠卡顯微鏡,體視顯微鏡,金相顯微鏡,顯微鏡攝像頭,電鏡制樣設備,原子力顯微鏡,

 

Leica EM TXP定點修塊拋光機
 
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Leica EM TXP定點修塊拋光機

徠卡EM TXP 標靶面制備系統(tǒng)是用鋸,磨,銑削,拋光樣品后,供掃描電鏡,透射電鏡,和LM技術檢測。

帶有一體化體視鏡,用于精確定位及對較細微難以觀察的目標位置進行樣品處理時觀察;使用樣品旋轉手柄,可以改變樣品觀察角度,0°-60°可調,或者垂直于樣品前表面90°觀察,可利用目鏡刻度標尺測量距離。

為您帶來的優(yōu)勢

 

 

   

一體化自動程序控制

一體化自動程序控制,包括自動左右制動機制,前進反饋力控制,倒計數(shù)功能等,為使用者節(jié)約大量時間。

表面光潔度和標靶檢測

表面處理與目標檢測,都通過一體化體視鏡來完成,用戶不需要專程將樣品拿出來再進行表面觀察檢測,這可大大提高使用者的工作效率。

適配工具多樣性

可適配多種多樣工具,從而使樣品不經轉移就可以進行研磨,切割,鉆孔,打磨及拋光。并且整個處理過程都可通過體視鏡進行觀察監(jiān)控,大大節(jié)省時間和費用。

 
適配工具多樣性

 

Leica EM UC7 為室溫和冷凍*切片而設計
 
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Leica EM UC7 為室溫和冷凍*切片而設計

徠卡EM UC7提供半薄超薄切片和容易準備,以及樣品表面光滑處理,為透射電鏡,掃描電鏡,原子力顯微鏡和光鏡檢驗生物和工業(yè)樣品。


超薄切片的新標準


徠卡EM UC7樹立新標準結合人體工程學設計和創(chuàng)新技術。它的功能    

技能或初學超薄切片者都能獲得利用效益。

 

為您帶來的優(yōu)勢

 

 

無紙報告 改進刀,標本的能見度

無紙報告

輕松下載的用戶,樣品,刀和存儲參數(shù),通過USB,到Excel(只通過10.4“控制器)

 

改進刀,標本的能見度

三個獨立,內置亮度可調的LED光源和額外提供兩個的照明LED射燈

你的桌子上更多的工作空間

離子發(fā)生器和EM FC7控制集成到徠卡EM UC7單元 - 沒必要額外的控制臺

刀使用信息

利用10.4“控制器把鉆石刀刃分成部分,確保鉆石刀刃完整長度的*使用(申請)

Leica EM TRIM2 修塊機
 
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型號:Leica EM TRIM2   參考價格:面議   產地:德國 

電鏡樣品修塊機不要60秒就修完一個金字塔!Leica TRIM2是一體化立體顯微鏡和LED環(huán)形照明的高速銑磨系統(tǒng),適用于超薄切片前的生物樣品和工業(yè)樣品修塊的制備。 

全新設計的Leica TRIM2通過可調的樞軸臂能提供*化的樣品制備角度,快速地將電鏡樣品或光鏡樣品修整成金字塔型或四棱柱型等,而整個修塊過程都可以在一體的立體顯微鏡下實時觀察。另外樞軸臂上的樣品托盤可以對包埋樣品做居中調節(jié),方便后續(xù)樣品修塊。 

技術參數(shù): 

1μm步進

主要特點:

體視鏡正面觀察樣品

Leica EM TRIM2 修塊機

徠卡EM RES101多功能離子束研磨儀
 
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全計算機控制的多功能離子減薄系統(tǒng),有高度的靈活性

主要特點:

減薄角度可調由0º至90º

一體化設計,重復性實驗設備,可靠具操作性

全電腦控制,精確的參數(shù)調整,運行中無需人干涉

鞍式離子槍,高能量-快速蝕刻

制冷系統(tǒng),銅傳導,確保TEM,SEM在低溫下操作

主機內置2級泵,確保高真空

減少裝卸時間,高效率

操作簡便直觀,帶自保護防止離子溢出與過熱功能

法拉力環(huán)檢查樣品是否穿孔,自動終止功能

裝載閘保持系統(tǒng)高真空度穩(wěn)定不變

減薄過程中離子能量高低可調

內置視頻監(jiān)視器,直接觀察樣品減薄情況

可編程,觸摸屏設計,直觀操作

Leica EM TIC 3X三離子束切割儀
 
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Leica EM TIC 3X三離子束切割儀

幾乎任何材質樣品都可獲得高質量截面,在沒有任何變形或損傷的情況下揭開樣品內部zui真實結構信息,在使用徠卡EM TIC3X之前,這類工作從未變得如此之簡單。 
徠卡EM TIC 3X三離子束切割儀適宜處理軟/硬復合、帶有孔縫結構、熱敏感性、脆性及非均質樣品,獲得樣品截面,從而進行掃描電子顯微鏡(SEM),微區(qū)分析(EDS,WDS,Auger,EBSD)及原子力顯微鏡或掃描探針顯微鏡(AFM,SPM)檢測。 
三離子束(分別獨立控制),冷凍樣品臺及多樣品臺,確保離子束對樣品處理高效,切割區(qū)域寬且深,從而獲得高質量截面切割結果。

為您帶來的優(yōu)勢
1、*性能*的三離子束系統(tǒng),可獲得*的截面處理質量,并可高效獲得寬且深的切割區(qū)域,大大降低工作時間。并可實現(xiàn)在一次處理過程中zui多處理3個樣品。因此對有高通量需求的實驗室,徠卡EM TIC 3X是*解決方案。
2、樣品托多種多樣的樣品托,適合于各類尺寸樣品。
3、可裝配系統(tǒng)根據您的樣品制備需要,可以有針對性地在徠卡EM TIC 3X上裝配一體化設計樣品臺-標準樣品臺,多樣品臺或冷凍樣品臺。
4、樣品TOPO結構清晰可見除了剖面切割,使用同一樣品托還可對樣品進行清潔及增強襯度的功能。
5、冷凍樣品臺針對溫度敏感型樣品如橡膠或水溶性高分子聚合纖維等,可以使用冷凍樣品臺對樣品進行低溫下處理,獲得高質量處理結果。樣品托和擋板的溫度都可達到-150° C。



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