SPD 2000 多功能X射線衍射儀儀器簡介:
 
用途:定性及定量分析,殘余應(yīng)力分析,薄膜,質(zhì)地,非常規(guī)環(huán)境分析,奧氏體定量分析,晶粒尺寸/晶格應(yīng)變和結(jié)晶度計(jì)算
多功能X射線衍射儀 技術(shù)參數(shù):
 
? 常規(guī)的定性和定量分析 
? 殘余應(yīng)力分析 
? 薄膜,質(zhì)地 
? 非常規(guī)環(huán)境分析 
? 殘留奧氏體定量分析 
? 晶粒尺寸/晶格應(yīng)變和結(jié)晶度計(jì)算 
應(yīng)用領(lǐng)域 
? 環(huán)境,土壤/巖石,粘土,礦石,陶瓷 
? 水泥,玻璃,石油,催化劑,聚合物 
? 農(nóng)業(yè)科學(xué),生物科學(xué),化學(xué),醫(yī)藥,化妝品,涂料 
? 核工業(yè),鋼鐵,紡織,電子和磁性材料
多功能X射線衍射儀 主要特點(diǎn):
 
SPD 2000為廣泛的分析需求提供了解決方案,從常規(guī)的定性和定量分析,到殘余應(yīng)力分析,薄膜,質(zhì)地,非環(huán)境分析,殘余奧氏體定量分析,晶粒尺寸/晶格應(yīng)變和結(jié)晶度計(jì)算。 
SPD 2000的特點(diǎn) 
多功能X射線衍射儀 
有原位微處理器的超高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器,微處理器可通過電腦串行接口控制 
帶有可旋轉(zhuǎn)管的管罩,可以使用點(diǎn)聚焦或行聚焦 
調(diào)焦Kα1單色器可以得到高亮度和分辨率 
使用Max-FluxTM光學(xué)系統(tǒng)的平行光束光學(xué) 
透射模式和反射模式之間可以自動(dòng)轉(zhuǎn)換 
高精度,高速測角儀 
適合Ag,Cr, Fe, Cu, Co , Mo 輻射的二級(jí)單色器 
填充氙氣的正比,閃爍計(jì)數(shù)器,線性或彎曲的位敏檢測器(PSD) 
非常規(guī)環(huán)境分析,低溫或高溫附件 
使用Microsoft Windows 98/NT/2000/ME 或 XP 操作系統(tǒng),在32位環(huán)境下進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和儀器控制 
包括Rietveld精修的晶體結(jié)構(gòu)軟件
 
			 
			 
			
 
 
 
 

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