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上海磊微科學儀器有限公司
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臭氧分析儀檢測中應注意事項2023/11/23
臭氧分析儀是分析大氣中臭氧含量的儀器、低濃度臭氧分析儀適用于對環(huán)境大氣濃度的監(jiān)測及臭氧發(fā)生源，例如：負離子發(fā)生器、復印機、臭氧消毒柜、臭氧空氣消毒設備、醫(yī)用臭氧消毒設備等的臭氧泄漏狀況進行監(jiān)測、高濃度臭氧分析儀適用于臭氧發(fā)生器制造企業(yè)檢測產品的臭氧發(fā)生濃度,各衛(wèi)生防疫部門對臭氧殺菌消毒產品的檢測、臭氧分析儀檢測中應注意事項：1、采樣管材料應選用抗強氧化的材料,如玻璃、聚四氟乙烯、聚偏二氟乙烯;不銹鋼材料也盡量少用,以減少采樣管中臭氧損耗。2、采樣管應盡量短，測量低濃度時一般不要超過2m。3、從采
原子層沉積系統(tǒng)中的沉積速率受哪些因素影響？ 2023/07/20
原子層沉積系統(tǒng)的關鍵在于準確控制反應溫度、原子/分子流量以及與表面的相互作用等參數，從而實現(xiàn)精確的沉積速率和薄膜厚度控制。通過精心設計的反應室和控制系統(tǒng)，ALD系統(tǒng)不僅可以沉積常見的金屬氧化物、金屬硫化物等傳統(tǒng)材料，還可以制備復雜的多層結構、異質結構和納米尺度結構。這使得ALD技術在微電子、能源儲存、傳感器、光學器件等領域具有巨大的潛力。沉積速率是評估ALD系統(tǒng)性能的重要指標，受多種因素的影響。下面將介紹影響ALD沉積速率的關鍵因素。1、反應溫度：ALD反應是在一定溫度范圍內進行的。提高反應溫度
原子力顯微鏡探針的掃描速率受哪些因素影響？2023/07/12
原子力顯微鏡探針采用了先進的納米加工技術，使得探針的直徑僅為幾個納米級，大大提高了成像分辨率。同時，研究團隊還改進了探針的機械結構和控制系統(tǒng)，使其在復雜的環(huán)境中仍能保持高度穩(wěn)定的性能。在AFM中，探針在樣品表面上進行掃描以獲取高分辨率的表面拓撲圖像，其掃描速率是影響實驗效率和數據質量的重要參數。以下是影響原子力顯微鏡探針掃描速率的幾個因素：1、力曲線的采集速率：在AFM中，探針通過檢測樣品表面的力變化來獲得拓撲信息。采集力曲線的速率決定了掃描速率。較高的采集速率可以提高掃描速率，但也可能導致力曲
SEM掃描電子顯微鏡常見的成像模式有哪些？2023/06/25
在SEM掃描電子顯微鏡中，電子束從電子槍中發(fā)出，通過軌道電磁透鏡設備進行聚焦和信號放大，最終與樣品相互作用，產生二次電子和散射電子等各種信號，通過成像設備轉化成可觀察的圖像。在SEM成像中，常用的成像模式有以下幾種：1.次外殼成像模式（SEI）：這種模式下，SEM通過探測下方產生的二次電子和表面的次電子，即形成所謂的次表面成像。SEI模式可用于研究樣品表面形貌特征，例如表面粗糙度、形態(tài)等。2.高角度底層成像模式（BSE）：在樣品表面裝上低原子數的薄膜，使用BSE模式，可以觀察到帶有原子序數反比于
帕克原子力顯微鏡在納米技術研究中的重要性是什么？2023/06/15
帕克原子力顯微鏡（簡稱AFM）作為基于原子力原理的高分辨率顯微鏡技術，已經成為納米技術領域的重要研究工具。這項技術利用一個非常尖銳的探針掃描表面，并以納米級分辨率提供關于材料表面結構和拓撲特征的詳細信息。下面詳細介紹帕克原子力顯微鏡在納米技術研究中的重要性。1.幫助了解納米材料的結構和性質由于納米材料具有與其尺寸相應的性質，如表面能量、導電性、光學性質等，因此在構建納米級系統(tǒng)時必須考慮材料特征對性能的影響。帕克AFM可以提供高分辨率的圖像，顯示材料表面上的結晶信息、晶格缺陷、表面特性和化學組成等
park帕克原子力顯微鏡的安裝和使用事項2023/05/22
Park原子力顯微鏡是一種常用的高精度顯微鏡，能夠在納米尺度下對樣品表面的形貌、電學性能、磁學性能等進行表征。需要嚴格地按照使用規(guī)程進行操作和使用，以保證實驗數據和結果的可靠性。下面我們來了解一下ParkAFM的安裝和使用事項。一、安裝1.確保環(huán)境符合安裝條件：ParkAFM需要放置在一個無塵、溫濕度穩(wěn)定的房間內，應避免震動和噪音干擾。2.安裝微操作臺：將微操作臺放置在精度要求高、環(huán)境相對穩(wěn)定的平臺上，使其水平。3.安裝探頭：將探頭安裝在支架上，并且使其處于正常工作狀態(tài)下。4.安裝選配附件：固定
掃描電鏡SEM為何廣受大眾的喜愛？2023/05/17
隨著科技的發(fā)展，掃描電鏡作為一種高分辨率的顯微鏡已經廣泛應用于各個領域，如材料科學、生物學、地質學等。那么為什么掃描電鏡能夠廣受大眾的喜愛呢？這里我們就來探究一下原因。一、高分辨率SEM是一種真正具有光學分辨率的顯微鏡，它能夠通過掃描電子束與樣品表面相互作用產生的不同信號來形成圖像，從而達到非常高的分辨率。其能夠對物質在微觀尺度下的形貌、結構、組成、性質等進行精確高清的顯示和分析，這使得SEM成為當今顯微鏡之一。二、多功能性SEM不僅能夠提供表面形貌和組成分析，還可以用于顯微操控、原位測試、納米
原子力顯微鏡出現(xiàn)異常時如何處理2023/04/18
原子力顯微鏡是一種高級的表面形貌分析儀器，廣泛用于表面形貌分析、磨損分析、物質力學性能分析等方面。它的精密性和高靈敏度使得樣品的污染、探針的損壞等情況可能導致探針出現(xiàn)異常。那么在出現(xiàn)異常時，我們應該如何處理呢？1.停止使用并進行檢查如果探針出現(xiàn)異常，第一時間應當停止使用，然后對探針進行檢查。探針異常的原因可能是探針尖的損壞或者是污染。對于器件的操作者，需要對操作程序及注意事項進行嚴格遵守，減少探針的損壞或者污染情況的發(fā)生。2.完善探針的制備條件為了最大限度地減少出現(xiàn)異常的情況，需要完善探針的制備
原子力顯微鏡探針的使用方法介紹2023/03/24
顯微鏡探針是顯微鏡系統(tǒng)中的主要組成部分之一，常見的顯微鏡探針包括光學顯微鏡的物鏡、掃描電子顯微鏡的電子束和原子力顯微鏡的探針等。不同的顯微鏡探針在不同的顯微鏡系統(tǒng)中具有不同的應用范圍和使用方法。以原子力顯微鏡探針為例，以下簡單介紹其使用方法：1.安裝探針：需要用顯微鏡探針實現(xiàn)高分辨率成像時，首先需要將探針安裝到原子力顯微鏡系統(tǒng)中，安裝過程需要注意探針的正確插入方向和角度。2.調節(jié)探針位置：安裝完成后，需要通過控制系統(tǒng)調節(jié)探針的位置，使其能夠與樣品表面接觸。3.掃描樣品：探針與樣品表面接觸后，通過
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