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安徽奧科試驗(yàn)設(shè)備有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第5年
三箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱的常見故障2023/07/18
三箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱采用新一代外觀設(shè)計(jì),箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng)、控制技術(shù)均做較大改進(jìn),技術(shù)指標(biāo)更加穩(wěn)定,運(yùn)行可靠維護(hù)方便,保證提高整機(jī)可靠性,該沖擊試驗(yàn)箱是根據(jù)用戶要求設(shè)計(jì)制造,適用于艦船、電工、電子等產(chǎn)品整機(jī)及零部件的高低溫沖擊試驗(yàn)及高溫或低溫環(huán)境下的貯存和試驗(yàn)。整個(gè)箱體分為上、中、下三個(gè)區(qū)分別為高溫區(qū)、測(cè)試區(qū)、低溫區(qū)三部分,采*特?cái)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果,試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物完*靜止,應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式,沖擊試驗(yàn)時(shí)自動(dòng)打開高溫區(qū)與低溫區(qū)的風(fēng)閥從而達(dá)到高溫與低溫的沖擊試驗(yàn)。這些年來,很多人在使用三箱式高
氙燈耐氣候老化箱試驗(yàn)過程中受影響的因素2023/07/17
氙燈耐氣候試驗(yàn)箱采用能模擬全陽光光譜的燈來再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波,可以為科研、產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制提供相應(yīng)的環(huán)境模擬和加速試驗(yàn)用數(shù)天或數(shù)周的時(shí)間即可重現(xiàn)戶外數(shù)月乃至數(shù)年出現(xiàn)的危害,人工加速老化試驗(yàn)數(shù)據(jù)可以幫助選擇新材料,改造現(xiàn)有材料,以及評(píng)價(jià)配方的變化是如何影響產(chǎn)品的耐久性。氙燈耐氣候試驗(yàn)箱中測(cè)試時(shí)間和戶外曝曬時(shí)間和下列因素有關(guān):戶外曝曬場的地理緯度(越靠近赤道,紫外線越強(qiáng))。海拔高度(海拔越高意味著紫外線越強(qiáng))。當(dāng)?shù)氐牡乩憝h(huán)境,例如風(fēng)速會(huì)影響測(cè)試樣品的風(fēng)干程度或接近水源的地方會(huì)促進(jìn)露水的
高低溫試驗(yàn)箱溫度不均勻的原因2023/07/17
高低溫試驗(yàn)箱在使用時(shí)容易受影響的就是溫度,經(jīng)常會(huì)碰到溫度忽高雙忽低,溫度不均勻給不少新用戶帶來困擾,是什么原因造成高低溫試驗(yàn)箱溫差呢?下面給大家分析一下塑膠高低溫試驗(yàn)箱溫度出現(xiàn)不均勻現(xiàn)象的因素。一、保溫材料。保溫材質(zhì)的確是保護(hù)塑膠高低溫試驗(yàn)箱箱內(nèi)的均勻度關(guān)鍵點(diǎn),如果保溫材料處理不好,直接影響箱內(nèi)均均度偏過大,一般我們選用聚氨脂保溫+玻璃纖維。二、風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)。試驗(yàn)箱采用風(fēng)循環(huán)是為了箱內(nèi)的均勻度,如在設(shè)備背部有風(fēng)道,加熱管加熱空氣通過風(fēng)葉攪拌均勻送入試驗(yàn)箱內(nèi)達(dá)到溫度均勻、我們采用的60W耐高溫馬達(dá),
PCB線路板的可靠性測(cè)試類型2023/07/15
高加速試驗(yàn)加速試驗(yàn)包括高加速壽命試驗(yàn)(HALT)和高加速應(yīng)力篩檢(HASS)。這些測(cè)試評(píng)估產(chǎn)品在受控環(huán)境下的可靠性,包括高溫、高濕和設(shè)備通電時(shí)的振動(dòng)/沖擊測(cè)試。目標(biāo)是模擬可能導(dǎo)致新產(chǎn)品即將失效的條件。在測(cè)試期間,產(chǎn)品在模擬環(huán)境中進(jìn)行監(jiān)控。電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)通常包括在一個(gè)小的環(huán)境室中進(jìn)行試驗(yàn)。濕度和腐蝕許多PCB將部署在潮濕的環(huán)境中,因此PCB可靠性的常見測(cè)試是吸水測(cè)試。在這種類型的測(cè)試中,PCB在放入濕度控制的環(huán)境室之前和之后都要稱重。任何吸附在板上的水都會(huì)增加板的重量,重量的任何顯著變化都將導(dǎo)
電子產(chǎn)品的可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)2023/07/15
電子類的產(chǎn)品在持續(xù)地增多,在產(chǎn)品的制造過程中,都會(huì)因?yàn)楦鞣N原因而對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量產(chǎn)生影響,可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的目的就是要了解電子產(chǎn)品在生產(chǎn)和應(yīng)用的過程中,遇到不同的氣候環(huán)境和機(jī)械環(huán)境,會(huì)不會(huì)對(duì)產(chǎn)品的正常使用產(chǎn)生影響。利用可靠性測(cè)試方法,可以測(cè)定出在不同環(huán)境中使用或儲(chǔ)存的電子產(chǎn)品的可靠特性參數(shù),為其應(yīng)用、生產(chǎn)及設(shè)計(jì)提供依據(jù);在產(chǎn)品設(shè)計(jì),原料和過程中,還可能會(huì)發(fā)現(xiàn)一些問題。電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如下:高溫測(cè)試GB/T2423.2IEC60068-2-2EIA-364-17低溫測(cè)試GB/T2423.1IEC6
氙燈老化箱摘要2023/07/14
氙燈老化試驗(yàn)機(jī)是一種用于測(cè)試產(chǎn)品在日常使用過程中的老化情況的設(shè)備。它使用氙燈的高能量輻射,模擬太陽光的照射來加速產(chǎn)品老化過程,以評(píng)估產(chǎn)品在實(shí)際使用過程中的性能和壽命。氙燈老化試驗(yàn)機(jī)的主要作用是通過控制燈光強(qiáng)度、溫度和濕度等因素,模擬產(chǎn)品在不同環(huán)境條件下暴露的情況,進(jìn)而評(píng)估產(chǎn)品在實(shí)際使用中的可靠性和耐久性。它可以幫助生產(chǎn)者了解產(chǎn)品的耐候性、耐磨損性、抗老化性等特性,從而指導(dǎo)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和改進(jìn)。氙燈老化試驗(yàn)機(jī)的原理是利用氙燈產(chǎn)生的高能量輻射來模擬太陽光的照射。氙燈發(fā)出的輻射能覆蓋整個(gè)可見光譜和紫外線區(qū)
溫度測(cè)試中HALT和HASS有什么區(qū)別2023/07/14
溫濕度測(cè)試的基本前提是將產(chǎn)品置于較高的環(huán)境應(yīng)力中誘發(fā)故障,而施加的環(huán)境應(yīng)力范圍很廣,主要溫濕度范圍取決于產(chǎn)品預(yù)期用途。溫濕度是較為常見的影響產(chǎn)品的環(huán)境因素,溫度變化會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品膨脹或收縮。速率因被測(cè)材料的類型而異。塑料的反應(yīng)與金屬不同,溫度測(cè)試參數(shù)始終根據(jù)測(cè)試過程中涉及的材料進(jìn)行設(shè)置。濕度波動(dòng)也會(huì)導(dǎo)致膨脹和收縮,濕氣滲透或泄漏是氧化和腐蝕的重要因素。耐濕性是涉及電氣或計(jì)算機(jī)化機(jī)構(gòu)的產(chǎn)品的主要性能考慮因素。通常通過將產(chǎn)品放入恒溫恒濕箱等溫濕度試驗(yàn)箱來執(zhí)行溫濕度測(cè)試。以恒溫恒濕箱為例,有一些試驗(yàn)箱很小
高低溫濕熱試驗(yàn)箱的日常使用小技巧2023/07/13
環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備品種繁多,但使用*廣泛的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備為高溫、低溫、濕熱試驗(yàn)箱,而現(xiàn)今比較流行是集合了高溫、低溫、濕熱為一體的試驗(yàn)箱—高低溫濕熱試驗(yàn)箱,它的修理難度較其它環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備大,且具有代表性。下面就高低溫濕熱試驗(yàn)箱為例,談一談高低溫濕熱試驗(yàn)箱的構(gòu)造及一些常見故障和排除方法。(一)常見高低溫濕熱試驗(yàn)箱的構(gòu)造試驗(yàn)人員除正確按操作規(guī)程操作,還應(yīng)該對(duì)其結(jié)構(gòu)有所了解。高低溫濕熱試驗(yàn)箱由箱體、風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)、加溫系統(tǒng)和控濕系統(tǒng)組成。風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)一般采用可調(diào)節(jié)送風(fēng)方向的結(jié)構(gòu);加濕系統(tǒng)有采用鍋爐加濕的和表
氙燈老化箱的維護(hù)技巧2023/07/13
氙燈老化試驗(yàn)箱正確的維護(hù)保養(yǎng)可以使其使用壽命延長、故障率降低。以下幾項(xiàng)維護(hù)保養(yǎng)的知識(shí)供大家參考學(xué)習(xí)。1.定期對(duì)箱體反光板和濾光片清潔。2.氙燈點(diǎn)燃后不得直視或其他未經(jīng)隔離方法觀察氙燈。3.使用過程中應(yīng)盡量避免氙燈頻繁點(diǎn)燃,以延遲氙燈的使用壽命氙燈熄滅后再次點(diǎn)燃時(shí)間應(yīng)不少于10分鐘。4.使用凈水系統(tǒng)需要定期檢查過濾器濾芯是否泛黃,并注意及時(shí)更新5.經(jīng)常檢查水路系統(tǒng)是否暢通,噴頭如發(fā)現(xiàn)有阻塞可用金屬絲加以疏通清洗6.氙燈使用一定時(shí)間后發(fā)光效率會(huì)減低,應(yīng)更換新燈管。7.試驗(yàn)結(jié)束后應(yīng)拉下電源斷路器,關(guān)掉
高低溫試驗(yàn)箱在太陽能電池行業(yè)的應(yīng)用2023/07/12
我們知道高低溫試驗(yàn)箱應(yīng)用于許多個(gè)行業(yè),如太陽能電池行業(yè),新能源行業(yè),LDE光伏行業(yè),半導(dǎo)體行業(yè),儀表行業(yè)等等,在每一個(gè)行業(yè)都把其作用發(fā)揮得淋*盡*,為產(chǎn)品的改善和新產(chǎn)品的研發(fā)發(fā)揮著不可替代的作用?,F(xiàn)我們講進(jìn)高低溫試驗(yàn)箱在太陽能電池行業(yè)發(fā)揮的重要作用。高低溫試驗(yàn)箱能在太陽能電池行業(yè)中提供濕冷凍,溫度循環(huán),濕熱試驗(yàn),高低溫濕熱老化循環(huán)測(cè)試等多種功效,以確認(rèn)太陽能電池在測(cè)試過程中是否發(fā)生故障或失效,透過溫濕度測(cè)試可以對(duì)大陽能電池失效進(jìn)行判定,以下是對(duì)大陽能電池壽命的相關(guān)檢測(cè)供大家參考,同時(shí)這一試驗(yàn)說明
高低溫交變?cè)囼?yàn)箱的氣體循環(huán)系統(tǒng)2023/07/12
高低溫交變?cè)囼?yàn)箱空調(diào)系統(tǒng)方法.強(qiáng)制性自然通風(fēng)內(nèi)均衡控溫法。該方式即指在制冷機(jī)組持續(xù)工作中的狀況下,自動(dòng)控制系統(tǒng)依據(jù)設(shè)置之溫度點(diǎn),根據(jù)PID全自動(dòng)計(jì)算輸出的結(jié)果去操縱電加熱器的輸出量,高低溫交變?cè)囼?yàn)箱之后做到一種穩(wěn)定平衡,氣體盾環(huán)系統(tǒng)設(shè)備:內(nèi)嵌中央空調(diào)間、循環(huán)系統(tǒng)風(fēng)管及短軸離心式風(fēng)機(jī)排風(fēng)機(jī),應(yīng)用高效率的制冷機(jī)組和動(dòng)能調(diào)整系統(tǒng)軟件,根據(jù)高效率排風(fēng)機(jī)開展合理的互換,做到溫度轉(zhuǎn)變之目地。高低溫交變?cè)囼?yàn)箱根據(jù)改進(jìn)氣體的氣旋,提升了氣體總流量及與電加熱器和氣體翅片換熱器的熱交換器工作能力,進(jìn)而大幅度改進(jìn)了環(huán)
快速溫變?cè)囼?yàn)箱在電池行業(yè)中的應(yīng)用2023/07/11
快速溫變?cè)囼?yàn)箱對(duì)于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果,另外應(yīng)力篩本身是一種制程階段的過程,而不是一種可靠度試驗(yàn),所以應(yīng)力篩選是100%對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行的程序。快速溫變?cè)囼?yàn)箱,其作用是在于從高溫快速變化到低溫或者低溫變化到高溫,目的在于使測(cè)試樣品在兩個(gè)極限溫度中快速變化導(dǎo)致的樣品內(nèi)部應(yīng)力對(duì)樣品本身的破壞。以GB31241為例,要求對(duì)電池樣品進(jìn)行75℃至-40℃在30分鐘內(nèi)完成轉(zhuǎn)化,每個(gè)條件保持1小時(shí),循環(huán)6次,其目的就在于極限溫度的快速變化使電池材料在熱脹冷縮下的應(yīng)力對(duì)材料本身產(chǎn)生一定的破壞,觀
冷熱沖擊試驗(yàn)箱的試驗(yàn)?zāi)康暮图夹g(shù)要求2023/07/11
一、試驗(yàn)?zāi)康睦錈釠_擊試驗(yàn)箱又稱高低溫沖擊試驗(yàn)箱,確定設(shè)備(產(chǎn)品)在周圍大氣溫度急劇變化時(shí)的適應(yīng)性。二、試驗(yàn)條件2.1試驗(yàn)溫度:高溫為70℃;低溫為-55℃。2.2試驗(yàn)溫度保持時(shí)間:1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定,以時(shí)間長者為準(zhǔn)。2.3轉(zhuǎn)換時(shí)間:不大于5min。2.4循環(huán)次數(shù):3次。三、對(duì)試驗(yàn)箱(室)的要求本標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用冷熱沖擊試驗(yàn)箱(室)或采用高溫試驗(yàn)箱(室)和低溫試驗(yàn)箱(室)進(jìn)行冷熱沖擊試驗(yàn),以提供試驗(yàn)樣品經(jīng)受周圍空氣溫度急劇發(fā)生變化的環(huán)境溫度。3.1高溫試驗(yàn)箱(室)的要求,應(yīng)符合GJB150.
冰水沖擊試驗(yàn)箱簡介2023/07/10
產(chǎn)品簡介:冰水沖擊試驗(yàn)箱主要模擬應(yīng)用在車輛受濺區(qū)域的產(chǎn)品由冰水引起的熱沖擊。模擬冬季在有水路面駕駛時(shí)冰水濺落到熱的系統(tǒng)/組件上。是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐冰水飛濺性試驗(yàn)、耐冰水浸沒性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備。試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)參考:ISO16750-4,第5.4,模擬應(yīng)用在車輛淺水區(qū)域的產(chǎn)品由冰水引起的熱沖擊測(cè)試。目的是模擬冬天當(dāng)在潮濕的路面駕駛時(shí)冰水濺落到發(fā)熱系統(tǒng)或組件上。失效模式是材料機(jī)械破裂或因老化和不同的膨脹系數(shù)造成密封失效另一附加失效模式,沒有在5.3.3
冷熱沖擊試驗(yàn)箱與快速溫變?cè)囼?yàn)箱的區(qū)別2023/07/10
冷熱沖擊試驗(yàn)又被稱為溫度沖擊試驗(yàn),或者高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)。它是模擬產(chǎn)品在設(shè)計(jì)研發(fā)、生產(chǎn)、運(yùn)輸、安裝及使用的過程中可能會(huì)經(jīng)受的劇烈溫度變化,主要驗(yàn)證的是測(cè)試品的結(jié)構(gòu)件耐熱脹冷縮性能。一定程度上講,冷熱沖擊試驗(yàn)屬于一種破壞性試驗(yàn)。什么是快速溫變?cè)囼?yàn)?快速溫變?cè)囼?yàn)包含于環(huán)境應(yīng)力篩選ESS試驗(yàn)中,是一種高效地提高產(chǎn)品可靠性的方法。環(huán)境應(yīng)力篩選(EnvironmentStressScreen,簡稱ESS)是鑒別和剔除產(chǎn)品工藝和元件引起的早期故障的一種工序和方法,主要通過向元器件以上各層次產(chǎn)品施加合理的環(huán)境
高低溫沖擊試驗(yàn)箱制冷系統(tǒng)堵塞的原因2023/07/07
高低溫沖擊試驗(yàn)箱一般由壓縮機(jī)、蒸發(fā)器、冷凝器及管路系統(tǒng)組成。制冷系統(tǒng)堵塞一般有臟堵和冰堵兩種,油堵比較少見。1、冰堵冰堵是高低溫沖擊試驗(yàn)箱冷系統(tǒng)進(jìn)入水分所致。因f-12本身含有一定的水分,加之維修或加氟過程中抽空工藝要求不嚴(yán),使水分、空氣進(jìn)入系統(tǒng)內(nèi)。在壓縮機(jī)的高溫高壓作用下,制冷劑由液態(tài)變?yōu)闅鈶B(tài),這樣水分便隨制冷劑循環(huán)進(jìn)入又窄又長的毛細(xì)管。當(dāng)每千克制冷劑含水量超過20mg時(shí),過濾器水分飽和,不能將水分濾掉,當(dāng)毛細(xì)管出口處溫度達(dá)到0℃時(shí),其水分從制冷劑中分解出來,結(jié)成冰,形成冰堵。臟堵和冰堵又分為
高低溫快溫變?cè)囼?yàn)箱降溫速率慢怎么辦2023/07/07
一般來說,高低溫快變?cè)囼?yàn)箱都會(huì)按照其規(guī)定的范圍進(jìn)行運(yùn)作,像是對(duì)運(yùn)行的時(shí)間和溫度都有嚴(yán)格的規(guī)定,但是這些規(guī)定都會(huì)由于高低溫快變?cè)囼?yàn)箱使用不當(dāng)而造成降溫緩慢,那么就這一問題,我們?cè)摬扇∧切┯行e措來進(jìn)行快速的補(bǔ)救呢?能夠解決這個(gè)問題的方法有五個(gè),這五個(gè)也是導(dǎo)致高低溫快溫變?cè)囼?yàn)箱降溫遲緩的罪魁禍?zhǔn)祝旅嫖覀円黄饋砜纯词悄奈鍌€(gè)原因吧!1、負(fù)載大檢查試驗(yàn)工件是否是帶電測(cè)試,并測(cè)出帶電測(cè)試時(shí)工件的發(fā)熱量,如發(fā)熱量在300W以內(nèi)對(duì)于試驗(yàn)箱沒有影響,但是發(fā)熱量過大會(huì)使箱內(nèi)溫度降溫緩慢無法達(dá)到儀表設(shè)定置或不制冷。
環(huán)境試驗(yàn)箱在集成電路行業(yè)的應(yīng)用2023/07/06
在集成電路行業(yè)大家想必都知道,集成電路IC卡在出廠之前是需要經(jīng)過高低溫測(cè)試的,來測(cè)試其在高低溫環(huán)境下的性能,集成電路IC卡在出廠之前,一定要進(jìn)行環(huán)境測(cè)試,以此來對(duì)集成電路在不同工作環(huán)境下的性能進(jìn)行模擬,集成電路高低溫測(cè)試是依靠封裝級(jí)和晶片級(jí)集成電路專用高低溫測(cè)試機(jī),來協(xié)助廠商完成高低溫循環(huán)測(cè)試、冷熱沖擊測(cè)試、老化測(cè)試等測(cè)試。芯片的高/低溫度測(cè)試可以在一秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)恒定溫度的快速升降,且精度達(dá)到±1℃,非常適用于芯片的高/低電學(xué)特性測(cè)試。芯片的高、低溫度試驗(yàn)采用了空氣壓縮機(jī),將干燥、清潔的空氣送入冰箱
低溫試驗(yàn)箱的試驗(yàn)步驟2023/07/06
GB/T2423.1是針對(duì)電工電子產(chǎn)品的國標(biāo)低溫試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn),等同于國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60068-2-1。GB/T2423.1低溫試驗(yàn)的步驟如下:1.初步檢測(cè)。通過目視檢查和(或)按相關(guān)規(guī)范要求進(jìn)行功能檢測(cè)來獲知試驗(yàn)樣品的初始狀態(tài)。2.條件試驗(yàn)。試驗(yàn)樣品應(yīng)按相關(guān)規(guī)范的詳細(xì)規(guī)定在低溫條件下暴露至規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。如果有試驗(yàn)樣品不能達(dá)到溫度穩(wěn)定的意外情況,整個(gè)試驗(yàn)持續(xù)的時(shí)間應(yīng)該從試驗(yàn)樣品通電時(shí)開始計(jì)算。通常這種情況是由有長時(shí)間工作循環(huán)的樣品引起的。3.負(fù)載檢測(cè)。試驗(yàn)相關(guān)規(guī)范可能要求在條件試驗(yàn)中間或條件試驗(yàn)結(jié)束
恒溫恒濕試驗(yàn)箱工作室尺寸如何選擇2023/07/05
將被試產(chǎn)品(元器件、組件、部件或整機(jī))置入氣候環(huán)境箱進(jìn)行試驗(yàn)時(shí),為了保證被試產(chǎn)品周圍氣氛能滿足試驗(yàn)規(guī)范所規(guī)定的環(huán)境試驗(yàn)條件,試驗(yàn)箱工作尺寸與被試產(chǎn)品外廓尺寸之間應(yīng)遵循以下幾點(diǎn)規(guī)定:a)被試產(chǎn)品的體積(W×D×H)不得超過恒溫恒濕箱有效工作空間的(20~35)%(推薦選用20%)。對(duì)于在試驗(yàn)中發(fā)熱的產(chǎn)品推薦選用不大于10%。b)被試產(chǎn)品的迎風(fēng)斷面積與該斷面上試驗(yàn)箱工作室總面積之比不大于(35~50)%(推薦選用35%)。c)被試產(chǎn)品外廓表面距試驗(yàn)箱壁的距離至少保持100~120mm,(推薦選用12
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