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日本DENSOKU電測電解式膜厚計GCT-311
| 測量范圍 | 0.01~300微米 |
|---|---|
| 最小分辨率 | 0.001微米 |
| 閥體精度 | ±1% |
| Measurement 單位 | 微米，毫米，密耳，MI |
| 測量區(qū)域 | 使用A型墊片時：3.4mmΦ B型墊片：2.5mmΦ C型墊片：1.8mmΦ |
| 權力 | 交流100V |
| 機身尺寸 | 寬265x深215x高138mm |
| 重量 | 4.5公斤 |
| 控制 | 基于 Windows 的計算機 |
日本DENSOKU電測電解式膜厚計GCT-311
Windows規(guī)范，全功能可測量多達5層
·使用個人計算機，操作簡單，功能增強- 使用Windows規(guī)范輕松處理數據·最多可注冊50個測量通道·多層涂層可設置多達5種測量條件·發(fā)生異常值時，以紅色和警告聲音報告測量值。
電解膜厚度計GCT-311的特點改進了可操作性和增強功能
使用個人計算機可改善可操作性和功能。
輕松的數據處理
使用Windows規(guī)范可以輕松進行數據處理。
最多可注冊50個頻道
最多可以注冊50個測量通道。
多層涂層，最多5層
多層涂層可以設置多達5種測量條件。
發(fā)生異常值時內置警告功能
當由于上限和下限設置而發(fā)生異常值時，測量值將顯示為紅色并顯示警告聲。
自動顯示所用電解質的類型
所用電解質的類型根據薄膜和基材的組合自動顯示。
輕松確認顯示處理方法
您可以檢查測量單元的顯示處理方法。
可分別測量純錫層和合金錫層
對于純錫層和合金錫層，可以單獨測量“錫/銅"測量。
輕松測量雙鎳和三鎳之間的電位差
通過使用參比電極（可選）和電位圖測量，可以容易地測量雙鎳和三鎳之間的電位差。
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