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手持式XRF光譜儀探測(cè)器如何選擇？
點(diǎn)擊次數(shù)：538 發(fā)布時(shí)間：2023-3-30
SDD還是PIN：您的手持式XRF分析儀需要哪種探測(cè)器？
在購(gòu)買(mǎi)手持式XRF分析儀時(shí)，確定需要硅漂移探測(cè)器（SDD）還是PIN探測(cè)器是您需要做出的首要選擇之一。
SDD對(duì)比PIN：它們之間有什么差別？
硅漂移檢測(cè)器（SDD）（德國(guó)KETEK公司）是一種較新的技術(shù)，其每秒鐘的X射線(xiàn)計(jì)數(shù)率比PIN探測(cè)器大約多10倍。SDD探測(cè)器的分辨率也比PIN探測(cè)器大約低40 eV。不過(guò)，伴隨著SDD性能的提高是成本的增加。
下圖說(shuō)明了同一樣品中Si-pin和SDD的輸出差異。紅色峰表示SDD輸出，灰色光譜表示si-pin。
決定因素：這很復(fù)雜，但如果您需要測(cè)量低含量（0.05％以下）元素、輕合金（鎂鋁合金、含硅硫磷合金）或干擾比較大的合金（比如錫鉛鉍合金、鉭鈮合金），那么SDD是最jia選擇。
在確定哪種探測(cè)器更適合您的時(shí)候，您需要考慮打算如何使用XRF分析儀。在此要問(wèn)您兩個(gè)重要的問(wèn)題：
1、您是否需要測(cè)量一些輕元素，如：鎂（Mg）、鋁（Al）、硅（Si）、磷（P）、硫（S）、氯（Cl）、鉀（K）或鈣（Ca）?
這些較輕元素的定量性檢測(cè)只能由裝配有SDD探測(cè)器的分析儀完成。許多人因此錯(cuò)誤地認(rèn)為不能使用裝配了PIN探測(cè)器的分析儀對(duì)鋁合金進(jìn)行分揀。但是，配備了PIN探測(cè)器的分析儀可以基于較重元素（如：銅、鉻或鐵）的含量對(duì)許多鋁合金牌號(hào)進(jìn)行分揀。當(dāng)然要進(jìn)行更細(xì)微的區(qū)分，如：鎂含量不同的6061鋁和6063鋁，需要使用配備了SDD探測(cè)器的分析儀。
如果您還是不太確定SDD和PIN探測(cè)器之間的差別，或者對(duì)XRF技術(shù)還有其他疑問(wèn)，請(qǐng)不要遲疑，向我們尋求幫助！